Tester wbudowany BIST dla analogowych układów w pełni różnicowych październik 2009
Dwie klasy układów elektronicznych V o V i+ V i- + _ Układy z wyjściem jednoliniowym Układy w pełni różnicowe
Definicje napięć
Układy w pełni różnicowe Napięcie ujemne Napięcie zerowe Napięcie dodatnie
Łatwość reprezentacji sygnałów bipolarnych w układach z pojedynczym zasilaniem V+V+ V-V- 2.5 V 0 V V + - V - Zalety układów w pełni różnicowych
Dynamika sygnału wyjściowego zwiększona o 6 dB w porównaniu z wyjściem jednoliniowym
Zalety układów w pełni różnicowych Zakłócenia na wejściu Zakłócenia na wyjściu Zakłócenia na liniach zasilania Zwiększona odporność na zakłócenia
Zalety układów w pełni różnicowych Duży współczynnik tłumienia zmian zasilania (PSRR) Redukcja parzystych harmonicznych
gdzie:
W pełni różnicowy wzmacniacz operacyjny z wewnętrznym sprzężeniem zwrotnym dla sygnału wspólnego
W pełni różnicowe wzmacniacze operacyjne z wewnętrznym sprzężeniem zwrotnym dla sygnału wspólnego THS 4131 (2001 r.) Texas Instruments THS 4509 (2005 r.) Texas Instruments AD 8132 (2004 r.) Analog Devices
W pełni różnicowy wzmacniacz operacyjny firmy Texas Instruments
Redundancja strukturalna układów w pełni różnicowych ułatwia ich testowanie i diagnostykę
Testowanie układ ó w w pełni r ó żnicowych Pobudzenie sygnałem r ó żnicowym Pobudzenie sygnałem wsp ó lnym Wariant 1 Wariant 2 Można wykazać, że wariant 1 i wariant 2 są równoważne z punktu widzenia testowania zorientowanego na uszkodzenia.
Funkcje układowe Pobudzenie sygnałem r ó żnicowym Pobudzenie sygnałem wsp ó lnym Wariant 1 Wariant 2
Testowanie napięciem wspólnym podanym na wejście sekcji ~ V iC _ + + _ W1W1 _ + + _ W2W2 _ + + _ W3W3 V o3+ V o3- _ + + _ W1W1 V o1+ V o1- ~ V iC Bezpośrednie pobudzenie pierwszej sekcji Pobudzenie sekcji wbudowanej za pośrednictwem sekcji poprzedzającej
Pobudzenie napięciem wspólnym wymuszonym na wyjściu sekcji _ + + _ W1W1 V o1+ V o1- ~ V iC ~ _ + + _ W1W1 _ + + _ W2W2 _ + + _ W3W3 V o3+ V o3- Testowanie pierwszej sekcji Testowanie sekcji wbudowanej
Testowany układ – filtr pasmowoprzepustowy 6. rzędu Sekcja 1 Q 1 = 01 = 4.44 10 3 rad/s k 1 = Sekcja 2 Q 2 = 2.18 02 = 6.84 10 3 rad/s k 2 = Sekcja 3 Q 3 = 2.18 03 = 2.88 10 3 rad/s k 3 =
Transmitancja sekcji filtru gdzie:
Projektowanie dla testowania – w pełni różnicowa implementacja filtru R3 R3’ C1 C1’ R1 R1’ R2 R2’ C2’ C2 W R4 R4’ R5 R5’ R6 R6’ C3 C3’ C4 C4’ C5 C5’ C6 C6’ W2 W3 V i- V i+ V o+ V o- V oCM1 V oCM2 V oCM3
Transformacja układu o strukturze niesymetrycznej do postaci w pełni różnicowej Filtr typu biquad o strukturze niesymetrycznej
W pełni różnicowa implementacja filtru typu biquad
Architektura wbudowanego układu samotestującego (BIST) Sekcja 1 Sekcja 2 Sekcja 3 Multiplekser Analizator odpowiedzi Wynik testu Wejście filtru Wyjście filtru Generator
Wyniki symulacji i pomiar ó w Testowanie sygnałem wsp ó lnym
Przykładowe wyniki pomiarów napięcia różnicowego w filtrze z uszkodzeniami katastroficznymi sekcji 1 Uszkodzony element Wyjściowe napięcie r ó żnicowe [V] Wariant 1Wariant 2 ZwarcieRozwarcieZwarcieRozwarcie R111,270,971,270,98 R211,270,961,280,98 R120,960,99 1,09 R220,951,160,981,09 C110,950,770,970,79 C210,930,780,990,78 C120,750,960,780,98 C220,730,960,780,98
Podsumowanie 1. Transformacja układów do postaci w pełni różnicowej ułatwia ich testowanie i diagnostykę. Dodatkowo uzyskujemy polepszenie parametrów funkcjonalnych. 2. Wykorzystanie wzmacniaczy ze sprzężeniem zwrotnym dla sygnału wspólnego daje możliwość realizacji oszczędnego pod względem układowym i nieinwazyjnego BISTu. 3. Wyeliminowanie potrzeby stosowania drogich zewnętrznych testerów i precyzyjnych pomiarów rekompensuje koszty realizacji BISTu.