POLITECHNIKA RZESZOWSKA im. Ignacego Łukasiewicza WYDZIAŁ ELEKTROTECHNIKI I INFORMATYKI KATEDRA METROLOGII I SYSTEMÓW DIAGNOSTYCZNYCH METROLOGIA Andrzej.

Slides:



Advertisements
Podobne prezentacje
Temat 2: Podstawy programowania Algorytmy – 1 z 2 _________________________________________________________________________________________________________________.
Advertisements

Proces doboru próby. Badana populacja – (zbiorowość generalna, populacja generalna) ogół rzeczywistych jednostek, o których chcemy uzyskać informacje.
© IEn Gdańsk 2011 Wpływ dużej generacji wiatrowej w Niemczech na pracę PSE Zachód Robert Jankowski Andrzej Kąkol Bogdan Sobczak Instytut Energetyki Oddział.
© IEn Gdańsk 2011 Technika fazorów synchronicznych Łukasz Kajda Instytut Energetyki Oddział Gdańsk Zakład OGA Gdańsk r.
Egzaminy organizowane na Litwie test kompetencji test kompetencji (po ukończeniu 10 klasy, w drugiej klasie gimnazjum, wiek powyżej 16 lat) (po ukończeniu.
Światowy Dzień Zdrowia 2016 Pokonaj cukrzycę. Światowy Dzień Zdrowia 7 kwietnia 2016.
EFEKT FOTOELEKTRYCZNY ZEWNĘTRZNY I WEWNĘTRZNY KRZYSZTOF DŁUGOSZ KRAKÓW,
POLITECHNIKA RZESZOWSKA im. Ignacego Łukasiewicza WYDZIAŁ ELEKTROTECHNIKI I INFORMATYKI ZAKŁAD METROLOGII I SYSTEMÓW POMIAROWYCH METROLOGIA Andrzej Rylski.
Plan Czym się zajmiemy: 1.Bilans przepływów międzygałęziowych 2.Model Leontiefa.
NIE TAKI KOMPUTER STRASZNY JAK GO MALUJĄ PODSTAWY OBSŁUGI KOMPUTERA.
Zarządzanie Zmianą Sesja 3 Radzenie sobie z ludzkimi aspektami zmiany: opór.
Rozliczanie kosztów działalności pomocniczej
ZASTOSOWANIE FUNKCJI WYKŁADNICZEJ I LOGARYTMICZNEJ DO OPISU RUCHU DRGAJĄCEGO Agnieszka Wlocka Agnieszka Szota.
POLITECHNIKA RZESZOWSKA im. Ignacego Łukasiewicza WYDZIAŁ ELEKTROTECHNIKI I INFORMATYKI ZAKŁAD METROLOGII I SYSTEMÓW POMIAROWYCH METROLOGIA Andrzej Rylski.
Ogólnopolskie Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Zabezpieczeń Technicznych i Zarządzania Bezpieczeństwem „POLALARM” Politechnika Warszawska Wydział.
MIESZACZE CZĘSTOTLIWOŚCI. Przeznaczenie – odbiorniki, nadajniki, syntezery częstotliwości Podstawowy parametr mieszacza = konduktancja (nachylenie) przemiany.
Niepewności pomiarowe. Pomiary fizyczne. Pomiar fizyczny polega na porównywaniu wielkości mierzonej z przyjętym wzorcem, czyli jednostką. Rodzaje pomiarów.
Cel analizy statystycznej. „Człowiek –najlepsza inwestycja”
Harmonogram rekrutacji do szkół ponadgimnazjalnych oraz kryteria przeliczania punktów.
autor dr inż. Andrzej Rylski TECHNIKA SENSOROWA 6.Producenci sensorów i urządzeń do pomiaru temperatury.
Sprawozdanie roczne z działalności Uczelnianej Komisji ds. Zapewnienia Jakości Kształcenia na PG w roku akademickim 2013/2014 Senat PG, r. Opracowała:
POLITECHNIKA RZESZOWSKA im. Ignacego Łukasiewicza WYDZIAŁ ELEKTROTECHNIKI I INFORMATYKI KATEDRA METROLOGII I SYSTEMÓW DIAGNOSTYCZNYCH METROLOGIA Andrzej.
POLITECHNIKA RZESZOWSKA im. Ignacego Łukasiewicza WYDZIAŁ ELEKTROTECHNIKI I INFORMATYKI KATEDRA METROLOGII I SYSTEMÓW DIAGNOSTYCZNYCH METROLOGIA Andrzej.
EWALUACJA PROJEKTU WSPÓŁFINANSOWANEGO ZE ŚRODKÓW UNII EUROPEJSKIE J „Wyrównywanie dysproporcji w dostępie do przedszkoli dzieci z terenów wiejskich, w.
Międzynarodowa konferencja naukowo-dydaktyczna Zrównoważony rozwój, zrównoważone społeczeństwo. Wyzwania edukacyjne Sustainable development, sustainable.
1 Konferencja dyrektorów szkół z terenu działania OKE w Krakowie październik 2008 roku część II.
Badania elastooptyczne Politechnika Rzeszowska Katedra Samolotów i Silników Lotniczych Ćwiczenia Laboratoryjne z Wytrzymałości Materiałów Temat ćwiczenia:
POLITECHNIKA RZESZOWSKA im. Ignacego Łukasiewicza WYDZIAŁ ELEKTROTECHNIKI I INFORMATYKI KATEDRA METROLOGII I SYSTEMÓW DIAGNOSTYCZNYCH METROLOGIA Andrzej.
Podstawy automatyki. Wprowadzenie Automatyka to dział nauki i techniki, który swoją uwagę koncentruje na sterowaniu procesami technologicznymi i różnego.
Pamięć operacyjna Procesor Jednostka centralna Urządzenia wejściowe: -klawiatura -mysz -skaner -modem -joystick -karta sieciowa Urządzenia wyjściowe.
IEN 2010 © wszelkie prawa zastrzeżone SEMINARIUM Pakiet MATLAB w Zakładzie OGM Możliwości posiadanych produktów.
POLITECHNIKA RZESZOWSKA im. Ignacego Łukasiewicza WYDZIAŁ ELEKTROTECHNIKI I INFORMATYKI ZAKŁAD METROLOGII I SYSTEMÓW POMIAROWYCH METROLOGIA Andrzej Rylski.
BYĆ PRZEDSIĘBIORCZYM - nauka przez praktykę Projekt współfinansowany przez Unię Europejską w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego.
Technologia nieorganiczna Lechowicz Jaromir, dr inż. Pok. 244 (termin konsultacji do ustalenia) Pok. 238 (zajęcia laboratoryjne) Tel
Geodezyjny monitoring elementów środowiska
POLITECHNIKA RZESZOWSKA im. Ignacego Łukasiewicza WYDZIAŁ ELEKTROTECHNIKI I INFORMATYKI KATEDRA METROLOGII I SYSTEMÓW DIAGNOSTYCZNYCH METROLOGIA Andrzej.
© Prof. Antoni Kozioł, Wydział Chemiczny Politechniki Wrocławskiej MATEMATYCZNE MODELOWANIE PROCESÓW BIOTECHNOLOGICZNYCH Prezentacja – 4 Matematyczne opracowywanie.
POLITECHNIKA RZESZOWSKA im. Ignacego Łukasiewicza WYDZIAŁ ELEKTROTECHNIKI I INFORMATYKI KATEDRA METROLOGII I SYSTEMÓW DIAGNOSTYCZNYCH METROLOGIA Andrzej.
Autor dr inż. Andrzej Rylski MIERNICTWO PRZEMYSŁOWE 1. K A R T A P R Z E D M I O T U 2. Analiza metrologiczna modelu fizycznego toru pomiarowego.
Algorytmy Informatyka Zakres rozszerzony
POLITECHNIKA RZESZOWSKA im. Ignacego Łukasiewicza WYDZIAŁ ELEKTROTECHNIKI I INFORMATYKI KATEDRA METROLOGII I SYSTEMÓW DIAGNOSTYCZNYCH MIERNICTWO PRZEMYSŁOWE.
Materiały pochodzą z Platformy Edukacyjnej Portalu Wszelkie treści i zasoby edukacyjne publikowane na łamach Portalu
Działalność konsultantów wojewódzkich zmiany w ustawie o konsultantach w ochronie zdrowia oświadczenia składane przez konsultantów kontrola podmiotów leczniczych.
Model warstwowy OSI Model OSI (Open Systems Interconnection) opisuje sposób przepływu informacji między aplikacjami programowymi w jednej stacji sieciowej.
POLITECHNIKA RZESZOWSKA im. Ignacego Łukasiewicza WYDZIAŁ ELEKTROTECHNIKI I INFORMATYKI KATEDRA METROLOGII I SYSTEMÓW DIAGNOSTYCZNYCH METROLOGIA Andrzej.
Analiza spektralna. Laser i jego zastosowanie.
WEZ 1 Wyniki egzaminu zawodowego absolwentów techników i szkół policealnych październik 2006 r.
Pole magnetyczne Magnes trwały – ma dwa bieguny - biegun północny N i biegun południowy S.                                                                                                                                                                     
Miernictwo przemysłowe 3 Wybrane zagadnienia w procesie projektowania, kompatybilność, odporność na zakłócenia.
1 Konferencja dyrektorów szkół z terenu działania OKE w Krakowie październik 2008 roku część III.
POLITECHNIKA RZESZOWSKA im. Ignacego Łukasiewicza WYDZIAŁ ELEKTROTECHNIKI I INFORMATYKI KATEDRA METROLOGII I SYSTEMÓW DIAGNOSTYCZNYCH METROLOGIA ELEKTRYCZNA.
POLITECHNIKA RZESZOWSKA im. Ignacego Łukasiewicza WYDZIAŁ ELEKTROTECHNIKI I INFORMATYKI ZAKŁAD METROLOGII I SYSTEMÓW POMIAROWYCH METROLOGIA Andrzej Rylski.
Optymalna wielkość produkcji przedsiębiorstwa działającego w doskonałej konkurencji (analiza krótkookresowa) Przypomnijmy założenia modelu doskonałej.
WEZ 1 Wyniki egzaminu zawodowego absolwentów techników i szkół policealnych październik 2006 r.
Metody sztucznej inteligencji - Technologie rozmyte i neuronowe 2015/2016 Perceptrony proste nieliniowe i wielowarstwowe © Kazimierz Duzinkiewicz, dr hab.
M ETODY POMIARU TEMPERATURY Karolina Ragaman grupa 2 Zarządzanie i Inżynieria Produkcji.
1 Studia o profilu praktycznym. Aspekty prawne i organizacyjne KONFERENCJA „PO PIERWSZE PRACA…” Konin, 18 września 2014 r. Artur Zimny Państwowa Wyższa.
Budżetowanie kapitałowe cz. III. NIEPEWNOŚĆ senesu lago NIEPEWNOŚĆ NIEMIERZALNA senesu strice RYZYKO (niepewność mierzalna)
POLITECHNIKA RZESZOWSKA im. Ignacego Łukasiewicza WYDZIAŁ ELEKTROTECHNIKI I INFORMATYKI KATEDRA METROLOGII I SYSTEMÓW DIAGNOSTYCZNYCH METROLOGIA Andrzej.
POLITECHNIKA RZESZOWSKA im
Wykład IV Zakłócenia i szumy.
Schematy blokowe.
POLITECHNIKA RZESZOWSKA im
Człowiek w systemie transportowym
Wytrzymałość materiałów
Tensor naprężeń Cauchyego
Wytrzymałość materiałów
Zapis prezentacji:

POLITECHNIKA RZESZOWSKA im. Ignacego Łukasiewicza WYDZIAŁ ELEKTROTECHNIKI I INFORMATYKI KATEDRA METROLOGII I SYSTEMÓW DIAGNOSTYCZNYCH METROLOGIA Andrzej Rylski Politechnika Rzeszowska Katedra Metrologii i Systemów Diagnostycznych, ul. W. Pola 2, Rzeszów, Andrzej Rylski Politechnika Rzeszowska Katedra Metrologii i Systemów Diagnostycznych, ul. W. Pola 2, Rzeszów, Systemy pomiarowe

Podstawowe informacje o module Nazwa jednostki prowadzącej studia: Elektrotechniki i Informatyki Nazwa kierunku studiów: Elektrotechnika Obszar kształcenia: nauki techniczne Profil kształcenia: ogólnoakademicki Poziom kształcenia: pierwszego stopnia Specjalności na kierunku: Napędy elektryczne w energetyce, motoryzacji i lotnictwie, Przetwarzanie i użytkowanie energii elektrycznej Tytuł otrzymywany po ukończeniu studiów: inżynier Nazwa jednostki prowadzącej moduł: Katedra Metrologii i Systemów Diagnostycznych Nazwa modułu: Metrologia II Kod modułu: 3675 Status modułu: obowiązkowy dla programu Napędy elektryczne w energetyce, motoryzacji i lotnictwie, Przetwarzanie i użytkowanie energii elektrycznej Układ modułu w planie studiów: sem: 3 / W15 L30 / 4 ECTS Język wykładowy: polski Imię i nazwisko koordynatora: dr inż. Andrzej Rylski Dane kontaktowe koordynatora: budynek A, pokój 202, tel , Terminy konsultacji koordynatora: środa 7-8, Pozostałe osoby prowadzące moduł semestr 3: prof. dr hab. inż. Mykhaylo Dorozhovets, termin konsultacji Cel kształcenia i wykaz literatury Główny cel kształcenia: Głównym celem kształcenia dla modułu Metrologia jest przedstawienie studentom informacji dotyczących metod pomiaru podstawowych wielkości elektrycznych oraz zapoznanie studentów z obsługą typowych przyrządów pomiarowych. Literatura wykorzystywana podczas zajęć wykładowych 1.1. Chwaleba A., Poniński M., Siedlecki A. Metrologia elektrycznaWydawnictwa Naukowo-Techniczne Warszawa., Rylski A.Metrologia II, prąd zmiennyOficyna Wydawnicza Politechniki Rzeszowskiej., Rylski A.Metrologia, wybrane zagadnienia, zadaniaOficyna Wydawnicza Politechniki Rzeszowskiej., Rylski A. Wojturski J.Metrologia elektrycznaOficyna Wydawnicza Politechniki Rzeszowskiej., 2013 Materiały dydaktyczne: Prezentacje, instrukcje do ćwiczeń, przykłady materiałów do kolokwium Inne: Stanowiskowe instrukcje do laboratorium

Wymagania wstępne w kategorii wiedzy/umiejętności/kompetencji społecznych Wymagania formalne: Rejestracja na trzeci semestr studiów Wymagania wstępne w kategorii Wiedzy: Podstawowa wiedza z matematyki, fizyki i Metrologia I Wymagania wstępne w kategorii Umiejętności: Podstawowe umiejętności z zakresu eksperymentów fizycznych Wymagania wstępne w kategorii Kompetencji społecznych: Podstawowa umiejętność współpracy w zespole. Efekty kształcenia dla modułu MEKMEK Student, który zaliczył moduł Formy zajęć/metody dydaktyczne prowadzące do osiągnięcia danego efektu kształcenia Sposoby weryfikacji każdego z wymienionych efektów kształcenia 01. Montuje i obsługuje podstawowe układy pomiarowe. wykład, laboratoriumkolokwium, egzamin cz. pisemna, egzamin cz. ustna 02. Mierzy złożone wielkości elektryczne.wykład, laboratorium sprawdzian pisemny, obserwacja wykonawstwa, raport pisemny, sprawozdanie z projektu 03. Oblicza niepewność uzyskanych wyników w pomiarach pośrednich wykład, laboratoriumkolokwium, sprawozdanie z projektu, egzamin cz. pisemna Treści kształcenia dla modułu Se m. TKTreści kształceniaRealizowane na 3 TK 01 Układy pomiarowe, systemy z mikroprocesorem, systemy z komputerami osobistymiW01, L04, L05, L07 3 TK 02 Pomiary wielkości elektrycznych i magnetycznych: napięcia, prądu, częstotliwości; pomiary okresu i przesunięcia fazowego, metody analogowe i cyfrowe oraz oscyloskopowe, krzywe Lissajous. Pomiary impedancji - wybrane układy Kolokwium Pomiary mocy, czynnej i biernej, THD, pomiary energii elektrycznej, odbiorników jednofazowych i trójfazowych, symetrycznych i niesymetrycznych. W02,W03, L01, L03, L04, L05 3 TK 03 Przetworniki pomiarowe Przetworniki U/U: wartości średniej, skutecznej, szczytowej, detektory składowej czynnej i biernej, detektory wartości ekstremalnych, przetworniki natężenia pola magnetycznego W04, W05, L02, L06, L08, L10, L11, L12 3 TK 04 Rejestracja danych pomiarowych W06, L02, L07, L09, L12 3 TK 05 Sprawdzanie urządzeń pomiarowych: krajowe służby miar, organizacja, normy W07, W08, L04,L06, L10, L Dziuban E.,Dorozhovets M.,Kowalczyk A.,Rylski A.,Szlachta A.,Tabisz R.,Wilk B.,Wojturski J. Metrologia elektryczna i elektroniczna Laboratorium Oficyna Wydawnicza Politechniki Rzeszowskiej., Sydenham P. H.Podręcznik metrologiiWydawnictwa Komunikacji i Łączności., 1990 Literatura do samodzielnego studiowania Literatura wykorzystywana podczas zajęć ćwiczeniowych/laboratoryjnych/innych

Warunki zaliczenia modułu Student, który zaliczył moduł na ocenę 3 na ocenę 4na ocenę 5 Montuje i obsługuje podstawowe układy pomiarowe. nie tylko osiągnął poziom wiedzy i umiejętności wymagany na ocenę 3, ale również uwzględnia wpływ warunków zewnętrznych na działanie przyrządów nie tylko osiągnął poziom wiedzy i umiejętności wymagany na ocenę 4, ale również montuje i obsługuje podstawowe przyrządy pomiarowe w sytuacjach nietypowych Mierzy złożone wielkości elektryczne. nie tylko osiągnął poziom wiedzy i umiejętności wymagany na ocenę 3, ale również uwzględnia wpływ warunków zewnętrznych na pomiar nie tylko osiągnął poziom wiedzy i umiejętności wymagany na ocenę 4, ale również uwzględnia podczas pomiarów sytuacje nietypowe Oblicza niepewność uzyskanych wyników w pomiarach pośrednich nie tylko osiągnął poziom wiedzy i umiejętności wymagany na ocenę 3, ale również uwzględnia wpływ warunków zewnętrznych w obliczaniu niedokładności wyniku pomiaru nie tylko osiągnął poziom wiedzy i umiejętności wymagany na ocenę 4, ale również omawia sposoby zmniejszenia niedokładności wyniku pomiaru. Student, który osiągnął zakładany poziom wiedzy, posiadł wymagane umiejętności, cechuje się określonymi kompetencjami społecznymi,które są zdefiniowane w efektach kształcenia dla modułu, zalicza moduł kształcenia Student, który nie osiągnął zakładanych efektów kształcenia, nie zalicza modułu kształcenia Sposób wystawiania ocen składowych modułu i oceny końcowej Forma zajęć Sposób wystawiania oceny podsumowującej WykładKolokwium, egzamin pisemny, egzamin ustny Laboratoriumsprawdzian pisemny, obserwacja wykonawstwa, raport pisemny, sprawozdanie z projektu Ocena końcowa0,8 oceny z wykładu + 0,2 oceny z laboratorium Przykładowe zadania Wymagane podczas egzaminu/zaliczenia egz JPG kolsIIb2010.JPG kolsIIa2010.JPG Realizowane podczas zajęć ćwiczeniowych/laboratoryjnych/projektowych Inne Czy podczas egzaminu/zaliczenia student ma możliwość korzystania z materiałów pomocniczych: nie

Karandiejew K. B.: Pomiary elektryczne metodami mostkowymi i kompensacyjnymi, (tłum. z ros.), Wydawnictwa Naukowo- Techniczne Warszawa 1969 (tłumaczenie oryginału rosyjskiego z 1963r. Cmentarz ORLĄT LWOWSKICH ~zmisp/MSM2005/foto_200 5/foto.htm

METROLOGIA Literatura: Rylski A., Metrologia II prąd zmienny, str , skrypt, Wydawnictwa Politechniki Rzeszowskiej 2004 Rylski A., Metrologia – wybrane zagadnienia. Zadania, str , skrypt Wydanie III, Wydawnictwa Politechniki Rzeszowskiej 2004, Rylski A., Wojturski J., Metrologia elektryczna OWPRz 2013 Winiecki Wiesław: Organizacja komputerowych systemów pomiarowych. Warszawa, OWPW Systemy pomiarowe Zagadnienia: Wprowadzenie, niepewność pomiaru zadanie - Obliczenie wartości niepewności pomiaru Zadania systemu Algorytm procesu pomiarowego Klasyfikacja systemów pomiarowych. Budowa systemu pomiarowego Funkcje systemu pomiarowego Schemat blokowy przyrządu pomiarowego z mikroprocesorem Konfiguracja systemów pomiarowych. Interfejs w systemie pomiarowym. Interfejs RS-232 C Interfejs 422A Interfejs 485 Inne stosowane standardy interfejsów, standard VXI podsumowanie

Wyrażanie niepewności pomiaru Wyrażanie niepewności pomiaru przewodnik Główny Urząd Miar 1999 Niepewność typu A – u A (estymata odchylenia standardowego) Wartość odchylenia standardowego obliczona drogą analizy statystycznej. Dla rozkładu normalnego Gaussa: Niepewność typu B - u x Obliczenie niepewności wyniku pomiaru metodami innymi niż analiza serii pomiarów Np. z błędu przyrządu pomiarowego  x dla rozkładu: Dla rozkładu normalnego Studenta Niepewność złożona - Obliczenie niepewności wyniku otrzymanego z pomiaru metodami pośrednimi Niepewność rozszerzona Współczynnik rozszerzenia k p t pn Dla rozkładu równomiernego Dla rozkładu trójkątnego Dla rozkładu normalnego Niepewność względna u r

Obliczenie wartości niepewności Zadanie 53 Oblicz wartość niepewności metodą typu B oraz zapisz wynik pomiaru napięcia stałego multimetrem o następujących danych: Un=200mV, niedokładność wskazań ±0,3% of rdg +1dgt, rozkład błędów jest równomierny, wartość odczytana U=163,1mV U n =200mV U=163,1mV  M =±0,3%  A =+1z u B =?, U=?

Przesyłanie informacji świat rzeczywisty intelektualista inżynier modele intelektualne pomiary specjalista konstruowanie przyrządów rozważania intelektualne modele fizyczne Rys.1.1. Obszary działalności człowieka

Przesyłanie informacji, Metody bezpośredniego przesyłania informacji 1 - wartość chwilowa, x=x(t) 2 - wartość średnia, 3 - wartość skuteczna, 4 - wartość szczytowa, 5 - wartość międzyszczytowa. 6 - częstotliwość (okres), 7 - przesunięcie fazowe, opóźnienie, 8 - funkcja korelacji, 9 - współczynniki kształtu, 10 - współczynnik szczytu, 11 - współczynnik zniekształceń nieliniowych.

Metody bezpośredniego przesyłania informacji Tablica 1.A. Wartości, charakterystycznych współczynników, dla typowych sygnałów elektrycznych kształt sygnału x(t) nazwa sygnału wartość skuteczna U wartość średnia  x(t)  współczyn-nik kształtuk współczynnik szczytu k a U m 0 sinusoidalny 0,707 U m 0,637 V m prostokątny symetryczny bez składowej stałej U m 1 1 trójkątny

Metody pośredniego przesyłania informacji rodzaje modulacji modulacja fazy  M nośniki informacji fala elektromagnetyczna fala ciśnieniowa modulacja amplitudy modulacja częstotliwości modulacja liniowa modulacja kwadraturowa modulacja kodowana sposoby modulacji

Modulacja amplitudy

Modulacja częstotliwości i fazy

Elektromagnetyczne przesyłanie informacji. Rozprzestrzenianie się fal elektromagnetycznych: a. fale długie ( ) kHz, b. fale średnie 300 kHz-5 MHz, c. fale krótkie (5 - 50) MHz, d. fale ultrakrótkie i wyższe od 50 MHz antena nadawcza a b c d obszar jonosfery

Rodzaje emisji sygnału rodzaje emisji emisja pełna z wytłumiona falą nośną DSB z jedną wstęgą SSB z górną wstęgą USB z dolną wstęgą LSB a. b. c. d. AM LSB USB pilot fali nośnej

Wpływ zakłóceń toru przesyłowego o modulacji częstotliwości i fazy na metrologiczne właściwości przesyłanej informacji

Zagadnienia, literatura Literatura: [1].Gregg W. David; Podstawy telekomunikacji analogowej i cyfrowej, WNT Warszawa 1983r. [2].Sydenham P.H; Podręcznik metrologii, WKŁ Warszawa Przepływ informacji w świecie źródłem rozwoju 2.Wymień metody bezpośredniego przesyłania informacji. 3.Wyjaśnij pojęcie wartości skutecznej. 4.Podaj definicję wartości średniej. 5.Omów media do pośredniego przesyłu informacji. 6.Zagadnienia elektromagnetycznego przesyłania informacji 7.Podstawy fizyczne modulacji amplitudy. 8.Podstawy fizyczne modulacji częstotliwości. 9.Zmienność współczynnika szumów dla podstawowych rodzajów modulacji

Zadania systemu System pomiarowy - zestaw układów i urządzeń elektronicznych, dokonujący oceny wieloparametrowej badanego obiektu w sposób logicznie uporządkowany za pomocą zadanego programu. Rys. 1.A. Zdolność człowieka i systemu pomiarowego do analizy strumienia informacji Wykorzystanie informacji Strumień informacji Człowiek Maszyna oszacowanie wartości wybór metody wybór środków opracowanie układu pomiar. opracowanie programu wybór zakresów porównanie odczyt obróbka wyników interpretacja wynikow sporządzenie wyników stop start korekta

Zadania systemu Rys. 1.C. Zależności określające racjonalny stopień automatyzacji systemu: R - system ręczny PA - system półautomatyczny, A - system automatyczny

Klasyfikacja systemów pomiarowych Układ 1 porównania procesor Układ 2 porównania Ukł ad n porównani a Wzorze c 1 Wzorze c 2 Wzorze c n Obiekt badany Układ 1 porównania Układ 2 porównania Układ n porównania Wzorze c 1 Wzorze c 2 Wzorze c n Obiekt badany dane wartości ekstremalnych dobry/zły procesor Układ 1 porównania Ukł ad 2 porównani a Układ n porównania Wzorze c 1 Wzorze c 2 Wzorze c n Obiekt badany dane wartości ekstremalnych dobry/zły źródło sygnałów diagnostycznyc h procesor Rys. 1.D. Schemat funkcjonalny systemu pomiarowego-badawczego Rys. 1.E. Schemat funkcjonalny systemu pomiarowo-kontrolnego Rys. 1.F. Schemat funkcjonalny systemu pomiarowo- diagnostycznego

Klasyfikacja systemów pomiarowych systemy aktywne, najczęściej wykorzystujące sprzężenie zwrotne, systemy pasywne, pozbawione możliwości oddziaływania na badany obiekt. Systemy pomiarowe posiadające własny komputer sterujący, można podzielić na: z obróbką danych, systemy bez obróbki danych. Ze względu na strukturę systemy pomiarowe można podzielić na: systemy o strukturze sztywnej ( gdzie przeważają rozwiązania narzędziowe, hardwerowe) systemy o strukturze elastycznej ( z przewagą rozwiązań programowych - softwarowe) W systemach z obróbką danych,, przetwarzanie danych może odbywać się: w czasie rzeczywistym- off - line, czyli równolegle ze zbieraniem danych, w czasie własnym w zamkniętej pętli - on - line, z pewnym opóźnieniem, w czasie własnym w otwartej pętli -in - line, z pewnym opóźnieniem

Budowa systemu pomiarowego Głowica pomiarowa (adapter) Podstawka przejść Obiekt badany Zespół stymulujący Zespół Sterowania i programów Zespół przełączający Zespół pomiarowy Zespół oceny wyników Zasilacz Rejestratory i wskaźniki Interfejsy Rys. 1.G. Ogólny schemat blokowy systemu pomiarowego -zbieranie informacji, -przetwarzanie informacji, -transport informacji, -komunikacja z otoczeniem, -programowanie i sterowanie wewnętrzne.

Funkcje systemu pomiarowego Mikroprocesor spełnia w systemach pomiarowych dwie grupy funkcji sterująco-programujące i obliczeniowe: Automatyczne zerowanie i uwierzytelnianie - można uzyskać dokładność pomiaru najbardziej zbliżoną do dokładności własnego wzorca. Automatyczny wybór zakresu pomiarowego Przetwarzanie wyników pomiarów Przedstawianie w odpowiedniej formie wyników pomiarów – procedury tu występujące służą jednocześnie do sterowania urządzeniami zewnętrznymi współpracującymi z danym systemem pomiarowym.

Schemat blokowy przyrządu pomiarowego z mikroprocesorem. X We X/UA/C Przełącznik zakresów pomiar MAGISTRALA Wy ROM PP RAMinterfejs operator Konfiguracja systemów pomiarowych sekwencyjna gwiazdowa magistralowa pętlowa Informacja w systemie przesyłana jest za pomocą sygnałów informacyjnych (wyniki, dane) i organizacyjnych (adresy, rozkazy). Informacja może być transmitowana: 1.szeregowo, 2.równolegle, 3.lub szeregowo-równolegle.

Interfejs w systemie pomiarowym. Konfiguracja systemów pomiarowych -konfiguracja sekwencyjna -konfiguracja gwiazdowa -konfiguracja magistralowa. -konfiguracja pętlowa Informacja w systemie przesyłana jest za pomocą sygnałów: informacyjnych (wyniki, dane) i organizacyjnych (adresy, rozkazy). Informacja może być transmitowana: szeregowo, równolegle, lub szeregowo-równolegle.

11.5.Interfejs IEC Rys Kanał interfejsu między dwiema jednostkami Rys Struktura magistrli IEC - 625

Interfejs RS-232C Rys Struktura układu transmisyjnego z interfejsem RS-232C P Rys Typowe połączenie komputera (DTE) z modemem (DCE) W transmisji szeregowej, możemy wyróżnić trzy tryby przesyłania danych: tryb simpleks, w którym transmisja między dwoma urządzeniami odbywa się tylko w jednym kierunku, tryb półdupleks – transmisja dwukierunkowa, nie jednoczesna po jednej linii transmisyjnej, oraz tryb dupleks – transmisja dwukierunkowa, jednoczesna. Standard RS-232C umożliwia również transmisję danych dwoma rodzajami: transmisję synchroniczną, oraz transmisję asynchroniczną znakową.

Interfejs: RS-423A, RS-422A, RS Połączenie w interfejsie RS-423A z wykorzystaniem skrętki Rys Zrównoważony tor transmisyjny standardu RS-422A Rys Przykład toru transmisyjnego w standardzie RS-485 Określony w 1983 roku standard RS-485 jest rozszerzeniem standardu RS-422A. Rozszerzenie to dotyczy głownie możliwości dołączenia wielu nadajników do jednej linii transmisyjnej, oraz zwiększenia liczby odbiorników.

Pytania: Porównaj możliwości analizy informacji przez człowieka i system pomiarowy Omów algorytm procesu pomiarowego Przedstaw zależności określające racjonalność stopnia automatyzacji systemu. Podaj klasyfikację systemów pomiarowych. Zadania komputerów w pomiarach Zadania mikroprocesora w systemie pomiarowym Schemat blokowy mikroprocesorowego systemu pomiarowego Wymień podstawowe konfiguracje systemów pomiarowych. Co to jest interfejs? Co to jest magistrala systemowa- charakterystyka? Wymień najważniejsze standardy interfejsów. Zasady łączenia urządzeń wejściowych z wyjściowymi Czym się różni transmisja synchroniczna od asynchronicznej? Literatura. [1] Winiecki Wiesław: Organizacja komputerowych systemów pomiarowych. Warszawa, OWPW 1997.