Metody goniometryczne w badaniach materiałów monokrystalicznych
Metoda Lauego
Otrzymywanie obrazów dyfrakcji metodą Lauego - lauegramy
Symetria lauegramów m
Metoda obracanego kryształu
Obrazy dyfrakcyjne w metodzie obracanego kryształu
Metoda kołysanego kryształu
Goniometr czterokołowy - geometria Eulera
Geometria Eulera Geometria kappa
Dyfraktometr 4-kołowy
Dyfraktometr wyposażony w detektor CCD * 07/16/96 Dyfraktometr wyposażony w detektor CCD *
Natężenie wiązki ugiętej I(h): * 07/16/96 Natężenie wiązki ugiętej I(h): gdzie: F(h) - czynnik struktury gdzie: fj - atomowy czynnik rozpraszania *
Problem fazowy w rozwiązywaniu struktury * 07/16/96 Problem fazowy w rozwiązywaniu struktury *
Zbiór danych: h, k, l, I(hkl), s(hkl) * 07/16/96 h k l I(hkl) s(I) -6 7 5 2342.12 67.36 1 -6 7 2 5716.85 102.91 1 -6 7 -1 852.69 47.97 1 -6 7 -4 3305.00 76.97 1 -6 7 -7 1369.84 62.54 1 -6 7 -10 216.07 59.88 1 -6 8 -8 599.79 64.20 1 -6 8 -5 847.04 58.49 1 -6 8 -2 2995.21 79.58 1 -6 8 1 580.38 49.22 1 -6 8 4 2372.71 74.31 1 -6 8 7 1535.78 66.63 1 -6 8 10 -59.87 59.04 1 -6 9 6 516.55 57.91 1 -6 9 3 742.80 56.53 1 -6 9 0 2323.23 75.79 1 -6 9 -3 278.79 55.51 1 -6 9 -6 972.79 69.28 1 -6 10 -4 984.22 68.59 1 -6 10 -1 202.52 55.33 1 -6 10 2 1027.74 67.19 1 -6 10 5 534.20 61.30 1 -5 -5 6 99.75 60.81 1 -5 -5 3 609.84 63.35 1 -5 -5 0 2003.69 76.45 1 Zbiór danych: h, k, l, I(hkl), s(hkl) Metoda Pattersona Metody bezpośrednie x y z Rb1 S1 1/3 2/3 0.12 Przybliżony model struktury Udokładnianie struktury metodą najmniejszych kwadratów Dokładny model struktury *
Udokładnianie struktury metodą najmniejszych kwadratów * 07/16/96 Udokładnianie struktury metodą najmniejszych kwadratów Wartości zmierzone Wartości obliczone na podstawie modelu struktury *
Wyniki badań strukturalnych RbHSO3 * 07/16/96 Wyniki badań strukturalnych RbHSO3 Układ krystalograficzny: heksagonalny Grupa przestrzenna: R 3m a 6.0008(4)A b 6.0008(4)A c 8.7974(8)A R 0.0164 wR2 0.0358 liczba refleksów 463 liczba parametrów 14 max/min resztkowe r +0.52/-0.71e/A3 *
Ekstynkcja pierwotna Ekstynkcja wtórna Efekt Renningera wielokrotnego wewnętrznego odbicia Kryształy zbliźniaczone
Badania materiałów polikrystalicznych
Dyfrakcja na materiałach polikrystalicznych
Metoda Debye'a-Scherrera-Hulla (DSH)
Dyfraktometr rentgenowski do badań materiałów polikrystalicznych Schemat goniometru
Dyfraktometr 2-kołowy do badań materiałów polikrystalicznych
Przykładowy dyfraktogram proszkowy Al(NH4)SO4·12H2O