Spektrometria Mas Jonów Wtórnych ION-TOF GmbH, Münster, Germany

Slides:



Advertisements
Podobne prezentacje
WYKŁAD II A. Podstawowe zadanie chemika materiałowego: kontrola wytwarzania, magazynowania i transferu materii i energii poprzez tworzenie nowych materiałów.
Advertisements

Spektroskopia Fotoelektronów
Wojciech Gawlik - Optyka, 2006/07. wykład 14 1/22 Podsumowanie W13 Źródła światła Promieniowanie przyspieszanych ładunków Promieniowanie synchrotronowe.
Naturalne tło promieniowania w Sieroszowicach
Instytut Metalurgii i Inżynierii Materiałowej Polskiej Akademii Nauk
Luminescencja w materiałach nieorganicznych Wykład monograficzny
PAS – Photoacoustic Spectroscopy
GOLUS KATARZYNA FIZYKA TECHNICZNA SEM.VIII
Optoelektronika i fizyka materiałowa1 Lasery telekomunikacyjne (InP) Lasery przestrajalne dzielimy na: -lasery przestrajalne w wąskim zakresie długości.
Zespół: A. Jabłoński , J. Sobczak, M. Krawczyk, W. Lisowski,
Zespół: A. Jabłoński , J. Sobczak, M. Krawczyk, W. Lisowski,
PODSTAWY CHEMII SUPRAMOLEKULARNEJ Z ELEMENTAMI NANO – NIEKONWENCJONALNIE METODY SYNTEZY Marek Pietraszkiewicz, Instytut Chemii Fizycznej PAN, Warszawa,
Luminescencja w materiałach nieorganicznych Wykład monograficzny
Politechnika Koszalińska Instytut Mechatroniki, Nanotechnologii
` Eliminacja interferencji izobarycznych selenu, arsenu i antymonu
Pracownia Teoretycznych Podstaw Chemii Analitycznej
Tunelowanie Elektronów i zasada działania skaningowego mikroskopu tunelowego Łukasz Nalepa Inf. Stos. gr
FIZYKA dla studentów POLIGRAFII Ruch ładunku w polu magnetycznym i elektrycznym.
Podstawowe treści I części wykładu:
Wykład GRANICE FAZOWE.
Elementy technologii mikroelementów i mikrosystemów
AKADEMICKIE CENTRUM MATERIAŁÓW i NANOTECHNOLOGII CENMIN CZT AKCENT MAŁOPOLSKA Regionalna Strategia Innowacji Województwa Małopolskiego Priorytet.
Wykład REAKCJE CHEMICZNE.
Chemia stosowana II chemia organiczna dr inż. Janusz ZAWADZKI p. 2/44
Chemia stosowana I temat: wiązania chemiczne.
Karolina Danuta Pągowska
INSTYTUT TELE- i RADIOTECHNICZNY założony w 1956 roku
Quantum Well Infrared Photodetector
WYGRAĆ Z AZBESTEM prof. dr hab. inż. Jerzy Dyczek, Przewodniczący Rady Programowej „Programu usuwania azbestu”, Akademia Górniczo-Hutnicza, Kraków.
Wykład 4 Pole grawitacyjne
Technologie wytwarzania cienkich warstw dla mikro i nanobiologii
i jego zastosowanie w badaniach właściwości termofizyczynych
Materiał edukacyjny wytworzony w ramach projektu „Scholaris - portal wiedzy dla nauczycieli” współfinansowanego przez Unię Europejską w ramach Europejskiego.
Fizyka i astronomia Opracowała Diana Iwańska.
Autorzy:Ania Szczubełek Kasia Sul
Nauka dla biznesu Katolicki Uniwersytet Lubelski Jana Pawła II
Technologie wytwarzania cienkich warstw dla mikro i nanobiologii
I A – przyrodnicza I B – humanistyczna I C – matematyczno informatyczna I D – matematyczno językowa I E – matematyczno językowa Masz klasę ? Wybierz swoją
atomowe i molekularne (cząsteczkowe)
Fluorescencja.
Treści multimedialne - kodowanie, przetwarzanie, prezentacja Odtwarzanie treści multimedialnych Andrzej Majkowski informatyka +
Mo ż liwo ś ci badawcze Laboratorium Mi ę dzyuczelnianego dla Przemysłu Spawalniczego Stalowa Wola marzec 2014 r. „Klaster Spawalniczy „KLASTAL” – integracja.
Najważniejsze właściwości makrocząsteczek: 1) Olbrzymie l/d: ODPOWIEDNIA DŁUGOŚĆ- NIEZBĘDNA DO SPEŁNIENIA ZADAŃ (LUB: KONIECZNOŚĆ SPEŁNIENIA OKREŚLONYCH.
PODSTAWY CHEMII SUPRAMOLEKULARNEJ Z ELEMENTAMI NANO – NIEKONWENCJONALNIE METODY SYNTEZY Marek Pietraszkiewicz, Instytut Chemii Fizycznej PAN, Warszawa,
WiązaNia CHemiczNe Jak jest rola elektronów walencyjnych w łączeniu się atomów? Jak powstają jony i jak tworzy się wiązanie jonowe? Jak się tworzy wiązanie.
Układ oKresOwy PierwiAstków
Andrzej J. Wojtowicz wyklad monograficzny 1 Luminescencja w materiałach nieorganicznych Wykład monograficzny AJ Wojtowicz Instytut Fizyki UMK Zakład Optoelektroniki.
Współczesny układ okresowy pierwiastków chemicznych (u.o.p. chem.)
TECHNOLOGIE MIKROELEKTRONICZNE Dr inż. Krzysztof Waczyński, Instytut Elektroniki, Politechnika Śląska, Akademicka 16, Gliwice (
Jaką masę ma cząsteczka?
Promieniowanie Roentgena Alicja Augustyniak Zarządzanie i Inżynieria Produkcji Wydział Górnictwa i Geoinżynierii Rok I, II stopień.
Fizyka Jednostki układu SI.
Fizyczne metody określania ilości pierwiastków i związków chemicznych. Łukasz Ważny.
Laboratorium Mikroskopii Elektronowej UJ / Electron Microscopy Laboratory dr hab. Franciszek Krok, prof. UJ Stan osobowy Laboratorium: 1 profesor, 1 doktorant,
TECHNOLOGIE MIKROELEKTRONICZNE Dr inż. Krzysztof Waczyński, Instytut Elektroniki, Politechnika Śląska, Akademicka 16, Gliwice (
Tlenki, nadtlenki, ponadtlenki
To komplementarna w stosunku do NMR i IR metoda analizy związków organicznych. SPEKTROMETRIA MASOWA ( MS ) (J.J. Thompson – 1911r. )
Przykład 1: Dla jakich wartości parametru k dane równanie x 2 -3x-2(k-7) ma pierwiastki a)różnych znaków b) jednakowych znaków c) dwa pierwiastki dodatnie.
prezentacja popularnonaukowa
Magnetron cylindryczny z dynamicznym polem magnetycznym
Jak przeliczać jednostki miary
Marek Demiański Instytut Fizyki Teoretycznej Uniwersytet Warszawski
WYTWARZANIE WARSTW DWUTLENKU KRZEMU
3Li ppm Li ppm Promień atomowy Promień jonowy (kationu, anionu)
Pojęcie mola, Liczba Avogadra, Masa molowa
Zaklad Fizyki Nanostruktur i Nanotechnologii w Instytucie Fizyki UJ
Wydział Technologii i Inżynierii Chemicznej
Stopień utlenienia Stopień utlenienia atomu określa jaki ładunek miałby atom, gdyby elektrony były przekazywane między atomami (nie-uwspólniane). Reguły.
Inductively coupled plasma – mass spectrometry
Zapis prezentacji:

Spektrometria Mas Jonów Wtórnych ION-TOF GmbH, Münster, Germany Dwuwiązkowy spektrometr TOF – SIMS źródła jonów Bi C60 Cs gaz: Ar, O2, … Instytut Fizyki UJ Laboratorium Inżynierii Analizy Nanowarstw i Biomedycznych Struktur Molekularnych TOF-SIMS IONTOF 5 ION-TOF GmbH, Münster, Germany

Spektrometria Mas Jonów Wtórnych Dwuwiązkowa analiza TOF - SIMS: tworzenie obrazów 4D masa (m) natężenie (I) x y z czas rozpylania głębokość wiązka analizująca widmo jonów wtórnych obszar rozpylany analiza 4D (x,y,z,m) Metoda Spektrometrii Mas Jonów Wtórnych służy do analizy składu powierzchni i profilowania głębokościowego materiałów organicznych i nieorganicznych Zastosowanie: - medycyna i biotechnologa (bioanaliza), - nauka o polimerach, - geochemia i kosmochemia, - archeologia, - badania nanomateriałów, - mikroelektronika.

Spektrometria Mas Jonów Wtórnych Przykład: analiza rozkładu pierwiastków w wielowarstwie (Al 20nm / Fe 20nm) na podłożu Si Parametry pomiaru analiza: Bi+, 30 keV, 0.46 pA, 80 x 80μm2 rozpylanie: O2+, 1 keV, 200nA, 200 x 200μm2, 5x1018 jon/cm2 MO