Pobieranie prezentacji. Proszę czekać

Pobieranie prezentacji. Proszę czekać

1 Test egzaminacyjny 25.01.2008 1. Przetworniki parametryczne, urządzenia w których A. wielkość mierzona nieelektryczna powoduje zmianę (np. rezystancji,

Podobne prezentacje


Prezentacja na temat: "1 Test egzaminacyjny 25.01.2008 1. Przetworniki parametryczne, urządzenia w których A. wielkość mierzona nieelektryczna powoduje zmianę (np. rezystancji,"— Zapis prezentacji:

1 1 Test egzaminacyjny 25.01.2008 1. Przetworniki parametryczne, urządzenia w których A. wielkość mierzona nieelektryczna powoduje zmianę (np. rezystancji, pojemności, indukcyjności, natężenia prądu, napięcia, częstotliwości) B. wielkość mierzona nieelektryczna nie powoduje zmianę (np. rezystancji, pojemności, indukcyjności, natężenia prądu, napięcia, częstotliwości) C.nie następuje wytwarzanie energii elektrycznej D.występuje wytwarzanie energii elektrycznej

2 2 Test egzaminacyjny 25.01.2008 2. Przetworniki generacyjne, urządzenia w których A. wielkość mierzona nieelektryczna powoduje zmianę (np. rezystancji, pojemności, indukcyjności, natężenia prądu, napięcia, częstotliwości) B. wielkość mierzona nieelektryczna nie powoduje zmianę (np. rezystancji, pojemności, indukcyjności, natężenia prądu, napięcia, częstotliwości) C.nie następuje wytwarzanie energii elektrycznej D.występuje wytwarzanie energii elektrycznej

3 3 Test egzaminacyjny 25.01.2008 3. Przetworniki parametryczne, to A. Czujniki rezystancyjne B. Czujniki magnetosprężyste C. Czujniki piezoelektryczne D. Czujniki pojemnościowe

4 4 Test egzaminacyjny 25.01.2008 4. Przetworniki generacyjne, to A. Czujniki rezystancyjne B. Czujniki fotoelektryczne C. Czujniki piezoelektryczne D. Czujniki pojemnościowe

5 5 Test egzaminacyjny 25.01.2008 5. Przetworniki pojemnościowe, to A. Czujniki o zmiennej powierzchni czynnej elektrod B. Czujniki o zmiennej odległości d między elektrodami C. Czujniki dynamiczne D. Mikrofony pojemnościowe

6 6 Test egzaminacyjny 25.01.2008 6. Pirometry, to A. Czujniki o zmiennej powierzchni czynnej elektrod B. Czujniki do pomiaru temperatury wewnątrz ciała człowieka C. Czujniki do pomiaru temperatury bezstykowo D. Przyrządy do pomiaru efektów pirotechnicznych

7 7 Test egzaminacyjny 25.01.2008 7. Do pomiaru momentu zginającego stosujemy A. Tensometrów oporowych B. Tensometrów piezoelektrycznych C. Tachogeneratorów D. Tensometrów indukcyjnych

8 8 Test egzaminacyjny 25.01.2008 8. Do pomiaru prędkości obrotowej stosujemy A. Tensometry oporowe B. Tachogeneratory C. Stroboskopy D. Prądnice stałoprądowe

9 9 Test egzaminacyjny 25.01.2008 9. Sygnał dyskretny argumentu ciągłego to: A B C D

10 10 Test egzaminacyjny 25.01.2008 10. Transformacja sygnału z dziedziny czasowej do częstotliwościowej jest opisana zależnością: A B C D

11 11 Test egzaminacyjny 25.01.2008 11. Analizatory oktawowe to: A. Przyrządy do analizy zapylenia B. Przyrządy do analizy dźwięku C. Analizatory o stałej szerokości pasma D. Analizatory o stałoprocentowej szerokości pasma

12 12 Test egzaminacyjny 25.01.2008 12. Do pomiaru drgań stosujemy: A. sejsmografy B. akcelerometry C. sonometry D. Przetworniki piezoelektryczne z masą sejsmiczną

13 13 Test egzaminacyjny 25.01.2008 13. Tensometry, to A. Przetworniki o zmiennej powierzchni czynnej elektrod B. Przetworniki do pomiaru odkształceń C. Przyrządy do pomiaru częstotliwości D. Przyrządy do pomiaru zawartości harmonicznych

14 14 Test egzaminacyjny 25.01.2008 14. Sygnał analogowy, to A. gdy jego wartość zdefiniowana w każdej chwili czasu, B. gdy jego amplituda jest ciągła i zdefiniowana w pewnych wybranych punktach (chwilach czasu), C. gdy czas jest ciągły a jego wartość przyjmuje pewne określone wartości, D. gdy jest zdefiniowany w pewnych punktach, jego wartość przyjmuje pewne określone wartości

15 15 Test egzaminacyjny 25.01.2008 15. Sygnał cyfrowy, to A gdy jest zdefiniowany w pewnych punktach, jego wartość przyjmuje pewne określone wartości B jego amplituda jest zdefiniowana w pewnych wybranych punktach (chwilach czasu), ma dowolną wartość C gdy czas jest ciągły a jego wartość przyjmuje pewne określone wartości, D gdy ma dwa argumenty

16 16 Test egzaminacyjny 25.01.2008 16. Czułość mikrofonu wyrażana jest w: A. dB/m/s2 B. mV/Pa C. V/m D. dB/V/Pa

17 17 Test egzaminacyjny 25.01.2008 17. Czułość akcelerometru wyrażana jest w: A. mV/g B. mA/g C. dB/V/ms-2 D. mW/ms-2

18 18 Test egzaminacyjny 25.01.2008 18. Sygnał na wyjściu piezoelektrycznego przetwornika drgań jest proporcjonalny do : A. Przemieszczenia drgań B. Prędkości drgań C. Przyspieszenia drgań D. Częstotliwości sygnału drgań

19 19 Test egzaminacyjny 25.01.2008 19. Górny zakres mierzonych ciśnień akustycznych pojemnościowego mikrofonu pomiarowego A. Maleje ze wzrostem średnicy mikrofonu B. Nie zależy od średnicy mikrofonu C. Rośnie ze wzrostem średnicy mikrofonu D. Maleje wraz ze wzrostem czułości mikrofon

20 20 Test egzaminacyjny 25.01.2008 20. Zakres pracy przetwornika piezoelektrycznego z masą sejsmiczną obejmuje zakres A. Od częstotliwości ok. 30 % powyżej rezonansu przetwornika B. Do ok. 30 % częstotliwości rezonansowej przetwornika C. W zakresie ± 30 % częstotliwości rezonansowej przetwornika D. W górę od ok. 30 % poniżej częstotliwości rezonansowej przetwornika

21 21 Test egzaminacyjny 25.01.2008 21. W którym przypadku uzyskuje się najwęższe pasmo przenoszenia częstotliwości? A. Przy mocowaniu akcelerometrów za pomocą wosku B. Przy mocowaniu akcelerometrów za pomocą magnesu C. Przy mocowaniu akcelerometrów za pomocą śruby D. Przy mocowaniu akcelerometrów za pomocą cementu


Pobierz ppt "1 Test egzaminacyjny 25.01.2008 1. Przetworniki parametryczne, urządzenia w których A. wielkość mierzona nieelektryczna powoduje zmianę (np. rezystancji,"

Podobne prezentacje


Reklamy Google