Mgr inż. Dariusz Załęski Katedra Optoelektroniki i Systemów

Prezentacja na temat: "Mgr inż. Dariusz Załęski Katedra Optoelektroniki i Systemów"— Zapis prezentacji:

1 Mgr inż. Dariusz Załęski Katedra Optoelektroniki i Systemów
Elektronicznych Urodzony: w Szczytnie, woj. warmińsko- mazurskie. Wykształcenie: od 2006 r. – uczestnik Studium Doktoranckiego WETI, promotor prof. dr inż. Romuald Zielonko 1998 r. – 2004 r. – Politechnika Gdańska, Wydział Elektroniki Telekomunikacji i Informatyki, specjalność Skomputeryzowane Systemy Elektroniczne. Praca dyplomowa pt. „Wbudowany mikroserwer TCP/IP...” została wyróżniona Dariusz Załęski, KOSE 1

2 Liczba publikacji wydanych: 3
Publikacje Liczba publikacji wydanych: 3 2 artykuły konferencyjne w tym 1 zagraniczny 1 praca w Zeszytach Naukowych Politechniki Gdańskiej Jedna publikacja przyjęta na konferencję Instrumentation And Measurement Technology Conference 2007 Publikacje związane z tematyką pracy doktorskiej: Czaja Z., Załęski D.: Implementation of input-output method of diagnosis of analog electronic circuits in embedded systems. Proceedings of the 10th IMEKO TC10 International Conference on Technical Diagnostics: 9–10 June, 2005, Budapest, Hungary Czaja Z., Załęski D.: Diagnostyka części analogowej elektronicznych systemów wbudowanych z zastosowaniem modelowania rozmytego. Zeszyty Naukowe Wydziału ETI Politechniki Gdańskiej, 2006. Dariusz Załęski, KOSE 2

3 Temat pracy: „Autodiagnostyka elektronicznych systemów wbudowanych mieszanych sygnałowo środkami zasobów sprzętowych i progra-mowych mikrokontrolera sterującego” Teza pracy: Środki sprzętowe i moc obliczeniowa mikrokontrolerów nowej generacji stosowanych w systemach wbudowanych są wystarczające do autodiagnostyki systemu, a zwłaszcza jego części analogowej. Zastosowanie mikrokontrolerów z logiką rozmytą upraszcza procedury autodiagnostyki uszkodzeń realnych układów z uwzględnieniem tolerancji ich elementów składowych. Cel pracy: Opracowanie, przebadanie symulacyjne i doświadczalne oraz implementacja nowych metod i procedur testowania umożli-wiających autodiagnostykę części analogowych elektronicznych systemów wbudowanych, przy wykorzystaniu zasobów sprzę-towych i programowych mikrokontrolerów sterujących. Dariusz Załęski, KOSE 3

4 Plan pracy doktorskiej
Wprowadzenie 1.1 Wprowadzenie i sformułowanie problemu 1.2 Cel i teza pracy Metody diagnostyczne bazujące na krzywych identyfikacyjnych w prze-strzeniach wielowymiarowych 2.1 Uwarunkowania metod pomiarowych wynikające z ograniczonych zasobów sprzętowych mikrokontrolera 2.2 Klasa transmitancyjnych metod amplitudowo-fazowych 2.3 Metody bazujące na próbkowaniu sygnału odpowiedzi układu 2.4 Implementacja i badania metod w systemie eksperymentalnym Diagnostyka układów z tolerancją przy wykorzystaniu mikrokontrolera z logiką rozmytą  Zastosowanie sygnałów komplementarnych do autodiagnostyki układów mieszanych sygnałowo. Wnioski końcowe Bibliografia Dariusz Załęski, KOSE 4

5 Dariusz Załęski, KOSE 5