Pobieranie prezentacji. Proszę czekać

Pobieranie prezentacji. Proszę czekać

I. Międzynarodowy Układ Jednostek Miar SI 1. Istota i znaczenie metrologii 2. Układ jednostek SI – proweniencja; cechy; jednostki podstawowe, uzupełniające.

Podobne prezentacje


Prezentacja na temat: "I. Międzynarodowy Układ Jednostek Miar SI 1. Istota i znaczenie metrologii 2. Układ jednostek SI – proweniencja; cechy; jednostki podstawowe, uzupełniające."— Zapis prezentacji:

1

2 I. Międzynarodowy Układ Jednostek Miar SI 1. Istota i znaczenie metrologii 2. Układ jednostek SI – proweniencja; cechy; jednostki podstawowe, uzupełniające i pochodne; informacja o wzorcach. 3. Działania na jednostkach – prefiksy, działania na jednostkach układu SI i wybranych pozaukładowych.

3 II. II. Teoria błędów pomiaru 1.Rachunek błędów – źródła i kategorie błędów: przypadkowe, systematyczne i grube; prawo rozkładu normalnego błędów przypadkowych, identyfikacja źródeł i ograniczanie wpływu błędów na wynik pomiaru. 2.Opracowanie wyników pomiarów - błędy pomiarów pojedynczych, estymatory błędów; błędy serii pomiarów; błędy wyników złożonych. 3.Niepewność pomiaru – znaczenie dla efektywnego wykorzystania wyniku pomiaru, reguły wyznaczania niepewności.

4 III. Aparatura pomiarowa w technikach wytwarzania (w zakresie długości i kąta) (w zakresie długości i kąta) 1. Wzorce - jednostka długości i jej odtwarzanie; wzorce kreskowe (zwykłe, inkrementalne i kodowe); wzorce końcowe i ich dokładności. 2. Czujniki Pomiarowe. Czujniki mechaniczne (zębate, dźwigniowo-zębate, sprężynowe), elektryczne (indukcyjne i pojemnościowe, optoelektroniczne), pneumatyczne i optyczno-mechaniczne. Główne zespoły i ich funkcje. Procedury pomiarowe. Własności metrologiczne. 3. Interferometry – jednoczęstotliwościowe, i dwuczęstotliwościowe; ustalanie wyniku pomiaru, korekcja czynników zaburzających.

5 4.Długościomierze pomiarowe. Interpolatory odczytowe (siatkowe i ze spiralą Archimedesa). Algorytmy pomiarowe. 6.Współrzędnościowe maszyny pomiarowe. Główne zespoły i ich funkcje. Rodzaje konstrukcji maszyn. Cyfrowe układy pomiarowe (rodzaje: inkrementalne i kodowe, zasada działania i dokładności). Sondy pomiarowe (stykowe i bezstykowe), sondy przełączające i mierzące. Konfiguracja sond. Procedury pomiarowe i rodzaje ich oprogramowań komputerowych. Pomiary punktowe i skaningowe. Dokładność maszyn pomiarowych. 7.Roboty i centra pomiarowe. Rodzaje konstrukcji. Parametry funkcyjne i dokładnościowe. Przykłady zastosowań. 8.Ramiona pomiarowe (portable CMM’s). Budowa i własności funkcyjne oraz metrologiczne. Systemy rozszerzania zakresu pomiarowego. Pomiary skaningowe. Pomiary specjalne.

6 IV. Technika pomiarów wielkości geometrycznych IV. Technika pomiarów wielkości geometrycznych Wybrane tematy z pośród następujących: 1. Pomiary mikrogeometrii powierzchni. Struktura geometryczna powierzchni. Parametry i funkcje opisujące chropowatość i falistość powierzchni. Metody pomiaru (stykowe i bezstykowe - optyczne i optoelektroniczne). 2. Makrogeometria powierzchni. Odchyłki kształtu w odniesieniu do elementów walcowych (okrągłości, prostoliniowości i walcowości) - opis parametrów i metody pomiaru (odniesieniowe i bezodniesieniowe - skomputeryzowane stanowiska pomiarowe). 3. Pomiary kątów elementów maszynowych. 4. Pomiary gwintów. Parametry gwintów, tolerancje i pasowania. Oznaczanie na rysunku. Metody pomiaru poszczególnych parametrów. Opis mikroskopów pomiarowych na przykładzie pomiaru gwintów. 5. Pomiary kół zębatych. Podział na grupy dokładności (dokładność kinematyczna, płynność pracy, przyleganie). Klasy dokładności. Metody pomiaru - skomputeryzowane stanowiska pomiarowe. Proces identyfikacji koła zębatego.

7 1.J.Arendarski: Niepewność pomiarów. Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej. Warszawa 2003. 2. J.Dusza, G.Gortart, A.Leśniewski: „Podstawy miernictwa”. Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa 2002. 3. J.Czajewski: „Podstawy metrologii elektrycznej”.Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej. Warszawa 2003. 4.E.Ratajczyk: „Współrzędnościowa technika pomiarowa”. Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej. Warszawa,2005. 5.E.Ratajczyk, A.Woźniak: „Współrzędnościowe Systemy Pomiarowe”. Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej. Warszawa, 2016. 6. W.Jakubiec, J.Malinowski: „Metrologia wielkości geometrycznych”. WNT. Warszawa 1998,2004. 7. J. Malinowski, Wł. Jakubiec: ”Pomiary gwintów w budowie maszyn”. WNT, Warszawa, 2008. Literatura


Pobierz ppt "I. Międzynarodowy Układ Jednostek Miar SI 1. Istota i znaczenie metrologii 2. Układ jednostek SI – proweniencja; cechy; jednostki podstawowe, uzupełniające."

Podobne prezentacje


Reklamy Google