Karolina Danuta Pągowska

Slides:



Advertisements
Podobne prezentacje
Przykład liczbowy Rozpatrzmy dwuwymiarową zmienną losową (X,Y), gdzie X jest liczbą osób w rodzinie, a Y liczbą izb w mieszkaniu. Niech f.r.p. tej zmiennej.
Advertisements

I część 1.
Joanna Sawicka Wydział Nauk Ekonomicznych, Uniwersytet Warszawski
Diody świecące i lasery półprzewodnikowe
POWIAT MYŚLENICKI Tytuł Projektu: Poprawa płynności ruchu w centrum Myślenic poprzez przebudowę skrzyżowań dróg powiatowych K 1935 i K 1967na rondo.
Instytut Wysokich Ciśnień PAN
PROMIENIOWANIE X, A ENERGETYCZNA STRUKTURA ATOMÓW
Interplay between magnetism and superconductivity in EuFe 2-x Co x As 2 studied by 57 Fe and 151 Eu Mössbauer spectroscopy A. Błachowski 1, K. Ruebenbauer.
Ludwik Antal - Numeryczna analiza pól elektromagnetycznych –W10
Wstęp do geofizycznej dynamiki płynów. Semestr VI. Wykład
Wstęp do geofizycznej dynamiki płynów. Semestr VI. Wykład
TERMO-SPRĘŻYSTO-PLASTYCZNY MODEL MATERIAŁU
Filtracja obrazów cd. Filtracja obrazów w dziedzinie częstotliwości
Domy Na Wodzie - metoda na wlasne M
Optoelektronika i fizyka materiałowa 1 Zakład Optoelektroniki IF PS dr hab. inż. Prof. PS - Sławomir M. Kaczmarek dr hab. inż. Prof. PS - Sławomir M. Kaczmarek.
Zespół: A. Jabłoński , J. Sobczak, M. Krawczyk, W. Lisowski,
Zespół: A. Jabłoński , J. Sobczak, M. Krawczyk, W. Lisowski,
Dariusz Bocian / 1 Seminarium ZFCE Warszawa, 1 kwiecień, 2005 Pomiar świetlności akceleratora LHC przy użyciu procesu dwufotonowego Dariusz Bocian Dariusz.
KONKURS WIEDZY O SZTUCE
Luminescencja w materiałach nieorganicznych Wykład monograficzny
Wykład III Rodzaje półprzewodników
Wykład VIII LIGHT EMITTING DIODE – LED
Ministerstwo Gospodarki Poland'sexperience Waldemar Pawlak Deputy Prime Minister, Minister of Economy March 2010.
Podstawy fotoniki rezonatory laserowe zastosowanie laserów
Lasery i diody półprzewodnikowe
Materiały fotoniczne Półprzewodniki Ferroelektryki Mat. organiczne
Wstęp do geofizycznej dynamiki płynów. Semestr VI. Wykład
Karolina Danuta Pągowska
UKŁADY SZEREGOWO-RÓWNOLEGŁE
Dyskretny szereg Fouriera
Transformacja Z (13.6).
Quantum Well Infrared Photodetector
Prawdopodobieństwo jonizacji w rozpadzie beta jonów 6He
Tytuł prezentacji Warszawa, r..
2010 nanoświat nanonauka Prowadzimy badania grafenu
Ogólnopolski Konkurs Wiedzy Biblijnej Analiza wyników IV i V edycji Michał M. Stępień
Trade unions - how to avoid problems ? Kancelaria Prawna Bujakiewicz & Sancewicz 1.
Produkcja skojarzona w systemie elektroenergetycznym
Informacja o lokalnym otoczeniu – atomowa zdolność rozdzielcza
Sekwencyjne bloki funkcjonalne
Kalendarz 2011 Real Madryt Autor: Bartosz Trzciński.
KALENDARZ 2011r. Autor: Alicja Chałupka klasa III a.
1/34 HISTORIA BUDOWY /34 3/34 6 MAJA 2011.
Analiza wpływu regulatora na jakość regulacji (1)
Analiza wpływu regulatora na jakość regulacji
Wykład 22 Modele dyskretne obiektów.
Lekcja 13 Strona 15. Lekcja 13 Strona 16 Lekcja 13 Strona 17 Vertical primary and secondary Tesla coil Jacobs ladder.
1. Pomyśl sobie liczbę dwucyfrową (Na przykład: 62)
Kalendarz 2011r. styczeń pn wt śr czw pt sb nd
Innowacyjne metody napawania
Badanie kwartalne BO 2.3 SPO RZL Wybrane wyniki porównawcze edycji I- VII Badanie kwartalne Beneficjentów Ostatecznych Działania 2.3 SPO RZL – schemat.
-17 Oczekiwania gospodarcze – Europa Wrzesień 2013 Wskaźnik > +20 Wskaźnik 0 a +20 Wskaźnik 0 a -20 Wskaźnik < -20 Unia Europejska ogółem: +6 Wskaźnik.
© GfK 2012 | Title of presentation | DD. Month
(C) Jarosław Jabłonka, ATH, 5 kwietnia kwietnia 2017
EcoCondens Kompakt BBK 7-22 E.
EcoCondens BBS 2,9-28 E.
6 CZERWIEC 2014 r PIECZĘĆ z 1236 r. 10.
WYNIKI EGZAMINU MATURALNEGO W ZESPOLE SZKÓŁ TECHNICZNYCH
Testogranie TESTOGRANIE Bogdana Berezy.
Jak Jaś parował skarpetki Andrzej Majkowski 1 informatyka +
Dr hab. Renata Babińska- Górecka
ZOSTAŃ SPORTOWYM KOKSEM SP 11 TYM KTÓRY OCZARUJE KOMISJĘ SĘDZIOWSKĄ.
Kalendarz 2020.
Współrzędnościowe maszyny pomiarowe
Elementy geometryczne i relacje
Strategia pomiaru.
TECHNOLOGIE MIKROELEKTRONICZNE Dr inż. Krzysztof Waczyński, Instytut Elektroniki, Politechnika Śląska, Akademicka 16, Gliwice (
Laboratorium Mikroskopii Elektronowej UJ / Electron Microscopy Laboratory dr hab. Franciszek Krok, prof. UJ Stan osobowy Laboratorium: 1 profesor, 1 doktorant,
TECHNOLOGIE MIKROELEKTRONICZNE Dr inż. Krzysztof Waczyński, Instytut Elektroniki, Politechnika Śląska, Akademicka 16, Gliwice (
MIKROSKOP ŚWIETLNY.
Zapis prezentacji:

Karolina Danuta Pągowska Instytut Problemów Jądrowych Od warstwy epitaksjalnej poprzez heterostruktury do przyrządów optoelektronicznych Karolina Danuta Pągowska

Plan seminarium Znaczenie związków półprzewodnikowych III-V Wytwarzanie warstw czyli epitaksja i wzrost epitaksjalny Techniki wzrostu warstw: MOCVD i MBE Metody charakteryzacji: HRXRD TEM RBS/channeling Przykłady 

Znaczenie związków III-V Związki półprzewodnikowe III-V są wykorzystywane do wytwarzania nowoczesnych przyrządów półprzewodnikowych dla mikro- i optoelektroniki.

Związki grup III-V III V III-N GaN, AlGaN, InGaN

Zakresy widmowy

Physics of light emission

Przerwa energetyczna prosta i skośna

Typical applications of semiconductor laser diodes

Laser diodes convert an electrical signal to light GaN

How do they work ?

Electron confinement on z-axis The quantum well z Electron confinement on z-axis

Low dimensional structures Quantum Wire 1D Quantum Dot 0 D Quantum Well 2D

Self-organization processes during epitaxial growth Intermediate misfit Small misfit Large misfit Layer by layer gowth (Frank - van der Merwe) Island growth (Vollmer – Weber) Layer plus island growth (Stransky – Krastanow)

Strained lattice-mismatched heterostructure Misfit f = (as-af)/as f(InAs/GaAs) = 7.1% f(Si/Ge) = 4.0 % f(AlAs/GaAs) = 0.1%

Lattice Parameter vs. Bandgap for III-V Compound Semiconductors

Materials systems for light sources Material systems: active layer/ barier layers Useful wavelength range (μm) GaAs/ AlxGa1-xAs GaAs/ InxGa1-xP InyGa1-yAs/ InxGa1-P InxGa1-xAsyP1-y/InP InxGa1-xN/GaN 0.80 - 0.90 0.90 – 1.00 0.85 - 1.10 0.92 - 1.70 0.35 - 1.10 Best developed system at present Most important systems in present

Epitaksja Epitaksja z języka greckiego (epi + taxia = położony na) Epitaksja to technika półprzewodnikowa wzrostu nowych warstw monokryształu na istniejącym podłożu krystalicznym, która powiela układ istniejącej sieci krystalicznej podłoża. Monokryształ – materiał będący w całości jednym kryształem (np. kryształ cukru, soli, półprzewodnika).

Epitaksja Epitaksja jest procesem tworzenia pojedynczych warstw monokryształu na monokrystalicznych podłożu. Gdy warstwa epitaksjalna i podłoże stanowią dokładnie taki sam materiał to proces epitaksji nazywamy homoepitaksją. Gdy warstwa epitaksjalna różni się od podłoża w jakikolwiek sposób to proces taki nazywamy heteroepitaksją.

Principle of MetalOxide Chemical Vapour Deposition M O C V D MOCVD (Metalorganic Chemical Vapor Deposition) MOVPE (Metalorganic Vapor Phase Epitaxy)

MBE – Molecular Beam Epitaxy

Podstawowe metody charakteryzacji heterostruktur HRXRD RBS/channeling TEM

Basics of X-ray Characterization Incident X-ray beam conditioned in wavelength  and divergence Dq Diffracted X-ray beam 2dsin =   Dla półprzewodników takich jak (Si, Ge) stałą sieci jesteśmy w stanie wyznaczyć z dokładnością 10-7. Natomiast dla związków półprzewodnikowych takich jak (GaAs, InP) dokładność ta wynosi 10-5.

Co to jest RBS? RBS – to skrót pochodzący od angielskiej nazwy metody Rutherford Backscattering Spectrometry (rozpraszanie jonów wstecz) Jest to metoda mikroanalizy jądrowej służąca do badania warstw powierzchniowych materiałów.

Podstawy Rutherford Backscattering Spectrometry Energia Głębokość Liczba cząstek rozproszonych x0 Podstawy Rutherford Backscattering Spectrometry x0 - O - Si 4He+, 2 MeV x0 Si SiO2

Superlattice 10xInP/In0.54Ga0.46As0.94P0.06 InxGa1-xAs1-yP1-y InP 10 x (Λ = 53 nm) Capping layer InP substrate

Kanałowanie jonów

Analiza rozkładu defektów przy użyciu kanałowania jonów

Random and aligned RBS/channeling spectra for Al0. 4Ga0 Random and aligned RBS/channeling spectra for Al0.4Ga0.6N/GaN structure with 500 nm thick SBL (only the potion of spectrum due to the scattering by Ga atoms is shown).

Depth distributions of displaced lattice atoms due to the dislocation formation in both epilayers deduced from spectra.

TRANSMISYJNY MIKROSKOP ELEKTRONOWY (TEM) działo elektronowe (wyrzutnia elektronów) kondensor – układ soczewek skupiających elektrony obiektyw – tworzy obraz rzeczywisty, odwrócony, powiększony komora preparatu soczewki pośrednie i projekcyjna – powiększają i rzutują obraz utworzony przez obiektyw ekran – materiał świecący w wyniku bombardowania elektronami np. siarczek cynku system rejestracji obrazu – klisza fotograficzna, kamera TV, matryca CCD

Obrazy TEM

Obrazy TEM

Depth distributions of displaced lattice atoms due to the dislocation formation in both epilayers deduced from spectra.

Podsumowanie Związki półprzewodnikowe grup III-V to materiały na bazie, których wytwarzane są współczesne urządzenia mikro- i optoelektroniczne. Należy jednak pamiętać, że nie tylko wytworzenie ale, także charakteryzacja takich materiałów daje dopiero pracujący przyrząd.