Diagnostyka Elektroniczna BIST dla filtru OTA-C zrealizowany metodą emulacji filtru za pomocą układu wszechprzepustowego październik 2009
Wprowadzenie Projektowanie dla testowania – każda modyfikacja układu na etapie projektowania, która może ułatwić testowanie, zredukować jego koszt, podnieść efektywność.
Wprowadzenie BIST (Built In Self Test) – mikroukład pomiarowy, wbudowany w układ scalony, w pakiet lub system elektroniczny umożliwiający jego samotestowanie.
Koncepcja BISTu
Wzmacniacze transkonduktancyjne (OTA)
OTA jednowyjściowy
OTA w pełni różnicowy
Prototypowy filtr RLC
Symulacja uziemionej rezystancji
Symulacja nieuziemionej rezystancji
Symulacja indukcyjności
Filtr OTA-C i filtr prototypowy RLC
Charakterystyka amplitudowo – częstotliwościowa filtru
Opóźnienie grupowe filtru w funkcji częstotliwości
W pełni różnicowa implementacja filtru OTA-C
Stopień wzmacniający
Filtry ze skorygowanym wzmocnieniem równym jeden
W pełni różnicowy układ wszechprzepustowy
Przebiegi opóźnienia grupowego w pełni różnicowego filtru OTA-C i equalizera
Blok analizujący (sumator napięć)
Element transkonduktancyjny (konwerter napięcia różnicowego na prąd pojedynczego wyjścia)
Aktywne obciążenie
Komparator okienkowy i układ logiczny
Charakterystyka przejściowa komparatora okienkowego
W pełni różnicowy filtr OTA-C z układem BIST
Przebiegi w układzie zdatnym
Przebiegi w układzie uszkodzonym
Przebiegi w układzie uszkodzonym
Parametry BISTu Pokrycie uszkodzeń: 98% Dodatkowe zużycie powierzchni krzemu: 20%
Detektor przejścia przez zero
Charakterystyka przejściowa