Pobieranie prezentacji. Proszę czekać

Pobieranie prezentacji. Proszę czekać

Mgr inż. Dariusz Załęski Katedra Optoelektroniki i Systemów ElektronicznychUrodzony: 30.08.1979 w Szczytnie, woj. warmińsko- mazurskie.Wykształcenie: od.

Podobne prezentacje


Prezentacja na temat: "Mgr inż. Dariusz Załęski Katedra Optoelektroniki i Systemów ElektronicznychUrodzony: 30.08.1979 w Szczytnie, woj. warmińsko- mazurskie.Wykształcenie: od."— Zapis prezentacji:

1 Mgr inż. Dariusz Załęski Katedra Optoelektroniki i Systemów ElektronicznychUrodzony: w Szczytnie, woj. warmińsko- mazurskie.Wykształcenie: od 2006 r. –uczestnik Studium Doktoranckiego WETI, promotor prof. dr inż. Romuald Zielonko od 2006 r. –uczestnik Studium Doktoranckiego WETI, promotor prof. dr inż. Romuald Zielonko 1998 r. – 2004 r.–Politechnika Gdańska, Wydział Elektroniki Telekomunikacji i Informatyki, specjalność Skomputeryzowane Systemy Elektroniczne. Praca dyplomowa pt. Wbudowany mikroserwer TCP/IP... została wyróżniona 1998 r. – 2004 r.–Politechnika Gdańska, Wydział Elektroniki Telekomunikacji i Informatyki, specjalność Skomputeryzowane Systemy Elektroniczne. Praca dyplomowa pt. Wbudowany mikroserwer TCP/IP... została wyróżniona 1 Dariusz Załęski, KOSE

2 Publikacje Liczba publikacji wydanych: 3 Liczba publikacji wydanych: 3 2 artykuły konferencyjne w tym 1 zagraniczny 2 artykuły konferencyjne w tym 1 zagraniczny 1 praca w Zeszytach Naukowych Politechniki Gdańskiej 1 praca w Zeszytach Naukowych Politechniki Gdańskiej Jedna publikacja przyjęta na konferencję Instrumentation And Measurement Technology Conference 2007 Jedna publikacja przyjęta na konferencję Instrumentation And Measurement Technology Conference 2007 Publikacje związane z tematyką pracy doktorskiej: Publikacje związane z tematyką pracy doktorskiej: Czaja Z., Załęski D.: Implementation of input-output method of diagnosis of analog electronic circuits in embedded systems. Proceedings of the 10th IMEKO TC10 International Conference on Technical Diagnostics: 9–10 June, 2005, Budapest, Hungary Czaja Z., Załęski D.: Implementation of input-output method of diagnosis of analog electronic circuits in embedded systems. Proceedings of the 10th IMEKO TC10 International Conference on Technical Diagnostics: 9–10 June, 2005, Budapest, Hungary Czaja Z., Załęski D.: Diagnostyka części analogowej elektronicznych systemów wbudowanych z zastosowaniem modelowania rozmytego. Zeszyty Naukowe Wydziału ETI Politechniki Gdańskiej, Czaja Z., Załęski D.: Diagnostyka części analogowej elektronicznych systemów wbudowanych z zastosowaniem modelowania rozmytego. Zeszyty Naukowe Wydziału ETI Politechniki Gdańskiej, Dariusz Załęski, KOSE

3 Temat pracy: Autodiagnostyka elektronicznych systemów wbudowanych mieszanych sygnałowo środkami zasobów sprzętowych i progra- mowych mikrokontrolera sterującegoAutodiagnostyka elektronicznych systemów wbudowanych mieszanych sygnałowo środkami zasobów sprzętowych i progra- mowych mikrokontrolera sterującego Teza pracy: Środki sprzętowe i moc obliczeniowa mikrokontrolerów nowej generacji stosowanych w systemach wbudowanych są wystarczające do autodiagnostyki systemu, a zwłaszcza jego części analogowej. Zastosowanie mikrokontrolerów z logiką rozmytą upraszcza procedury autodiagnostyki uszkodzeń realnych układów z uwzględnieniem tolerancji ich elementów składowych. Cel pracy: Opracowanie, przebadanie symulacyjne i doświadczalne oraz implementacja nowych metod i procedur testowania umożli- wiających autodiagnostykę części analogowych elektronicznych systemów wbudowanych, przy wykorzystaniu zasobów sprzę- towych i programowych mikrokontrolerów sterujących. 3 Dariusz Załęski, KOSE

4 4 Plan pracy doktorskiej 1.Wprowadzenie 1.1Wprowadzenie i sformułowanie problemu 1.2Cel i teza pracy 2.Metody diagnostyczne bazujące na krzywych identyfikacyjnych w prze- strzeniach wielowymiarowych 2.1Uwarunkowania metod pomiarowych wynikające z ograniczonych zasobów sprzętowych mikrokontrolera 2.2Klasa transmitancyjnych metod amplitudowo-fazowych 2.3Metody bazujące na próbkowaniu sygnału odpowiedzi układu 2.4Implementacja i badania metod w systemie eksperymentalnym 3.Diagnostyka układów z tolerancją przy wykorzystaniu mikrokontrolera z logiką rozmytą 4.Zastosowanie sygnałów komplementarnych do autodiagnostyki układów mieszanych sygnałowo. 5.Wnioski końcowe 6.Bibliografia

5 5 Dariusz Załęski, KOSE


Pobierz ppt "Mgr inż. Dariusz Załęski Katedra Optoelektroniki i Systemów ElektronicznychUrodzony: 30.08.1979 w Szczytnie, woj. warmińsko- mazurskie.Wykształcenie: od."

Podobne prezentacje


Reklamy Google