Podstawy Metrologii M-T sem. VII, 2008/2009

Prezentacja na temat: "Podstawy Metrologii M-T sem. VII, 2008/2009"— Zapis prezentacji:

1 Podstawy Metrologii M-T sem. VII, 2008/2009
Prof. Jan Zakrzewski Instytut Metrologii, Elektroniki i Automatyki Akademicka 10 (Bud. Prof. Fryzego), pok.23 Lit: Zakrzewski J.: Podstawy miernictwa dla kierunku mechanicznego. Wyd. Pol.Śl. Gliwice 2004 Wykłady: 1.10. Modele pomiaru, pojęcia podstawowe 8.10 Systemy pomiarowe, struktury i interfejsy. 15.10 Niepewność pomiaru 22.10 (SPR) Czujniki ciśnień, technologie mikroelektroniczne 29.10 Pomiary strumienia masy i objętości 5.11. Pomiary przemieszczeń i parametrów ruchu (SPR) Pomiary temperatur, dynamika pomiarów

2 Miejsce ćwiczeń: Budynek Wydziału Elektrycznego, Akademicka 10
Tematy zajęć laboratoryjnych: L1 – Pomiary przepływu i opracowanie wyników pomiarowych, L2 – Pomiary przemieszczeń liniowych, L3 – Pomiary prędkości obrotowej, L4 – Badanie termometrów elektrycznych, L5 – Badanie czujników ciśnienia, L6 – Badanie przetworników siły. L 1, 2, 3 sala – piwnica L 4, 5, 6 sala 113 – 1 piętro Prowadzący dr W. Domański sala 111

3

4 Zasady zaliczania przedmiotu:
Sprawdziany wykł. 2 x 0 do do 40 Laboratorium 6 x 0 do do 30 Sprawozdania 6 x 2 do do 30 Razem 12 do 100 pkt pkt pkt ,5 pkt pkt ,5 > 65 pkt (6x2) + (6x3) (6x3) + (6x3)

5 Obiekty, przedmioty, zjawiska
Weryfikacja przez pomiar Obserwacja Pomiar Model matematyczny opisowy Analiza modelu obserwację R A Skale pomiarowe: porządkowa, interwałowa, metryczna.

6 JEDNOSTKI UKŁADU SI Jednostki podstawowe: metr, sekunda, kilogram, amper, kandela, kelwin, mol. Jednostki pomocnicze: radian, steradian. Jednostki pochodne: Tworzenie jednostki wielkości W Wzór wielkościowy Wartości mianowane Definicja jednostki pochodnej

7 Państwowa Służba Miar (GUM)
Wzorzec podstawowy Wzorzec odniesienia Wzorzec świadek Wzorzec kontrolny I st Wzorzec kontrolny II st sprawdzenie Przyrządy pomiarowe najwyższej dokładności Przyrządy pomiarowe dokładne Przyrządy pomiarowe średniej dokładności Przyrządy pomiarowe małej dokładnosci Wzorzec I st. Wzorzec III st. Wzorzec II st. zastosowanie

8 Prawna kontrola metrologiczna
Legalizacja Zatwierdzenie typu Cechowanie Sprawdzanie Wzorcowanie Kalibracja Skalowanie Adjustacja

9 Procedura pomiarowa X M M* N Z V Rozdzielczość Mezurand M Selektywność
METODA POMIARU NARZĘDZIE POMIAROWE ODTWARZANIE MEZURANDU X M M* N Z V Rozdzielczość Mezurand M Selektywność Zakres pomiarowy Mmin Mmax Xmin Xmax Czułość S = N/X Stała (przyrządu) Powtarzalność

10 V Z M* X N M zmierzone Realne narzędzie pomiarowe pomiarowo dostępne
MEZURAND pomiarowo dostępne M Realne narzędzie pomiarowe X N Odtwarzanie Mezurandu (algorytm odtwarzania) zmierzone mierzalne Z VZ V Model narzędzia pomiarowego

11 CZUJNIKI Generacyjne u, i, q, Parametryczne R, C, L, M
O B I E K T PROFIBUSS HART 4-20 mA 8888 UKŁADY AUTOMA-TYKI AKWIZYCJI DANYCH CZ UP CZUJNIKI Generacyjne u, i, q, Parametryczne R, C, L, M Częstotliwościowe f, T Kodowe KOD

12 Liniowość Błędy nieliniowości Charakterystyka statyczna Zmiana zakresu zmienia błędy nieliniowosci Histereza

13 STRUKTURY SYSTEMÓW POMIAROWYCH

14 Magistrala interfejsu
Systemy pomiarowe MT-3 Komputer nadrzędny Magistrala interfejsu Kontroler podsystemu Magistrala interfejsu Przetwornik pomiarowy Czujnik

15 Drukarka 1:14 2-25 m Karta 1 MB/s Karta IEEE 1394 MT-3 RS 232 (1962)
SZEREGOWE RÓWNOLEGŁE CAMAC (Computer RS - 232 (1962) 1 :1, 15 m 115 kb/s RS - 232 Automated Measurement and RS - 232C (1968) Control Equipment) RS - 423A { 1:10, 30 m, 100kb/s } RS - 422A {1:10, 1200 m 10Mb/s} Centronix Drukarka RS {32:32,1200 m, 10 Mb/s} (EIA/TIA 232E) HPIB (1972) GPIB IEEE 488 1:14 2-25 m 1 MB/s USB (1997) {1:127, 5m, 480 Mb/s } PC Karta Karta PROFIBUS 32 : m 10 – 500 kb/s IEC 625 ISA IEC 625 MXI PCI PXI MXI ETHERNET VME (1982) Kaseta 40 MB/s IEEE 1394 Fire Wire { do 400Mb/s} VXI (1987) CAN Controller Area Network Motoryzacja Automatyka do500 m do 1Mb/s Microwire I2C Dla mikrokontrolerów i czujników zintegrowanych

16 Profibus FMS (Fieldbus Messge Specification) PA (Process Automation)
MT-3 Profibus FMS (Fieldbus Messge Specification) PA (Process Automation) DP (Decentralized Peripherials) Master Magistrala Pętla elementów aktywnych (Token) Slave ....

17 NORMA IEEE 1451 SMART TRANSDUCER INTERFACE MODULE
MT-3 SMART TRANSDUCER INTERFACE MODULE NETWORK CAPABLE APPLOCATION PROCESSER STIM A/C TEDS Logika Czujnik NCAP MSTIM Lista przyłączy MMI NCAP TEDS Czujnik Sieć

18 ZASILACZ12, 24, 36, 48 V NADAJNiK PĘTLA 4 –20 mA ŹRÓDŁO PRĄDOWE
X min X max I I 20 mA 4 mA X min X max NADAJNiK ŹRÓDŁO PRĄDOWE ZASILACZ12, 24, 36, 48 V ODBIORNIK PĘTLA 4 –20 mA

19 BŁĘDY I NIEPEWNOŚCI POMIARU
M-T2 BŁĘDY I NIEPEWNOŚCI POMIARU POJĘCIA WYZNACZANIE ZASTOSOWANIE

20 Eliminacja przyczyn błędów - zmniejszanie Z
NARZĘDZIE POMIAROWE X Y Z Y = F(X, ΔV, ΔZ) Eliminacja przyczyn błędów - zmniejszanie Z Kompensacja błędów - zmniejszanie wrażliwości Korekcja błędów - uwzględnianie poprawek

21 Struktury narzędzi pomiarowych
Szeregowa (posobna) Równoległa (różnicowa) Ilorazowa X Y add mul

22 Korekcja analogowa lub numeryczna
Struktura szeregowa Pomiar Z Z Z M X Y N TOR PRZETWARZANIA POMIAROWEGO CZUJNIK A/C Y = F( X, Z1, Z2, Z3,...) Korekcja analogowa lub numeryczna

23 Struktura równoległa Z Y1 X CZUJNIK 1 + Y3 Y = Y1 -Y2
A/C TOR PRZETWARZANIA POMIAROWEGO Y3 - Y2 X0

24 Struktura różnicowa Z Y1 Y = Y1 -Y2 X Y3 Y2 (-X)
CZUJNIK 1 CZUJNIK 2 Y1 Y = Y1 -Y2 + X A/C TOR PRZETWARZANIA POMIAROWEGO Y3 - Y2 (-X)

25 Struktura ilorazowa Y1 X Y3 Z N X0 Y2 TOR PRZETWARZANIA POMIAROWEGO
CZUJNIK 1 CZUJNIK 2 Y1 X A/C TOR PRZETWARZANIA POMIAROWEGO Y3 Y2 X0 Z ÷

26 BŁĄD: PODEJŚCIE TEORETYCZNE E = M* - M
BŁĄD PRZYPADKOWY losowy, wykrywalny przez powtarzanie obserwacji BŁĄD SYSTEMATYCZNY deterministyczny, wykrywalny przez zmianę warunków pomiaru BŁĘDY ZWIĄZANE Z PROCESEM POMIARU BŁĘDY ZWIĄZANE Z SYSTEMEM POMIAROWYM Błąd modelowy Graniczny błąd dopuszczalny Błąd metody Błąd podstawowy Błąd wzorcowania Błąd instrumentalny Błąd akwizycji danych Błąd powtarzalności Błąd redukcji danych Błąd rozdzielczości Błędy dodatkowe: Błąd kwantowania Błąd temperaturowy Błąd nieliniowości Błąd dynamiczny.... Błąd histerezy...

27 BŁĄD - PODEJŚCIE PRAKTYCZNE Niepewność jest miarą niewiedzy
E* = M* - M** POPR = - E* = M**- M* WYZNACZONA PRZEZ WZORCOWANIE LUB OBLICZENIA Wyznaczenie poprawki zmniejsza naszą niewiedzę odnośnie wyniku pomiaru BŁĄD PODSTAWOWY - wyznaczany w warunkach odniesienia BŁĄD DODATKOWY - spowodowany znaną zmianą warunków pracy NIEPEWNOŚĆ: PODEJŚCIE PRAKTYCZNE Niepewność jest miarą niewiedzy Wartość prawdziwa jest nieznana

28 Niepewność jest miarą niewiedzy
Guide to the Expresion of Uncertaiunty in Measurement ISO, BIPM, IEC, OIML.... (1993) (1995) Wyrażanie Niepewności Pomiaru, Przewodnik GUM (1999) Dokument EA-4/02 Niepewność jest miarą niewiedzy Niepewność typu A, uA Niepewność typu B, uB Niepewność złożona, Niepewność rozszerzona U = k u Przedział niepewności ± U

29 Niepewność jest miarą niewiedzy o wyniku pomiaru
Niepewność typu A

30 Współrzędnościowa maszyna pomiarowa
X=205.20 Y=130.05 X=205.28 Y=130.15 X=205.27 Y=130.05 X=205.32 Y=130.16 X=205.00 Y=130.00 Współrzędnościowa maszyna pomiarowa

31 Niepewność jest miarą niewiedzy o wyniku pomiaru
Niepewność typu B a/3  -a  +a g(X) X -Dane producenta systemu -nieliniowość -histereza -wpływ temperatury -wpływ innych wielkości... -Dane z poprzednich pomiarów -Niepewność stałych fizycznych -Niepowtarzalność procedur pomiarowych.... g(X) a -a 1/2a X

32 Niepewność jest miarą niewiedzy o wyniku pomiaru
g(X) X g(X) a -a 1/2a X 1/a

33 M* = F(M, ΔV, ΔZ) U = ku  U POMIARU POMIAROWE MEZURANDU X M M* N Z V
METODA POMIARU NARZĘDZIE POMIAROWE ODTWARZANIE MEZURANDU X M M* N Z V M* = F(M, ΔV, ΔZ) U = ku  U

34 przez lepszą estymację mezurandu
Redukcja niepewności przez lepszą estymację mezurandu Korekcja niepewności Kompensacja niepewności Filtracja = tworzenie nowej definicji mezurandu

35 maksymalny błąd dopuszczalny,
błąd graniczny Błąd nieliniowosci Błąd nieliniowości Niepewność nieliniowości (B) Błąd histerezy Niepewność histerezy (B) Błąd powtarzalności Niepewność powtarzalności (A) Błąd kwantyzacji Niepewność kwantyzacji (A) Błąd rozdzielczości Niepewność rozdzielczości (A) Błąd temperatury Błąd Temperaturowy Niepewność Temperat.(A), (B) Błąd dynamiczny Błąd dynamiczny Niepewność dynamiczna Szumy dynamiczne

36 Różnice pomiedzy modelem a zbiorem danych doświadczalnych
System pomiarowy i środowisko pomiaru Różnice pomiedzy modelem a zbiorem danych doświadczalnych Źródła niepewności Źródła błędów Propagacja niepewności Propagacja błędów Budżet niepewności Korekcja błędów Obszar zainteresowań użytkownika Wzorcowanie Wynik skorygowany Niepewność Wynik pomiaru

37 Zapis wyniku pomiaru M = M** ± U F = 528  3 kN F = 0,528  0,003 MN F = 528,354  3 kN F = 528  3,286 kN F = 528 kN  0,6 % F =  3000 N

38 Wnioski 1. Nie ma “± Błędów” 2. Projektant systemu dostarcza danych o współczynnikach korekcyjnych i składnikach niepewności 3. Użytkownik systemu decyduje o zastosowanych korekcjach i o budżecie niepewności 4. Przepisy certyfikacyjne i akredytacyjne wymuszają wprowadzenie podanych wyżej zasad do praktyki przemysłowej

39 Suwmiarka ± 0.03 mm u =0,046 U =0,092 0,4% D =20,08 ±0,09
odchyl kwadraty 20,16 +0,08 0,0064 20,21 +0.13 0,0139 20,07 -0,01 0,0001 19,97 -0,11 0,0121 20.01 -0.07 0,0049 100,42 0.0374 Dśr =20,08 uA = 0,043 u =0,046 U =0,092 D =20,08 ±0,09 0,4% A=314 ± 2,8 mm 2 0,9%