Pobierz prezentację
OpublikowałArkadiusz Sobol Został zmieniony 11 lat temu
1
Rentgenowska analiza fazowa jakościowa i ilościowa Wykład 5
Gęstość rentgenowska. Analiza fazowa jakościowa. Analiza fazowa ilościowa: -metody, -dobór wzorca, -przeprowadzenie analizy ilościowej metodą wzorca wewnętrznego. 1/27 XRD 4
2
A – ciężar cząsteczkowy [g/mol]
GĘSTOŚĆ RENTGENOWSKA A – ciężar cząsteczkowy [g/mol] Z – liczba formuł w komórce elementarnej V - objętość komórki elementarnej 1, –24 - jednostka masy atomowej 2/27 XRD 4
3
Policzyć gęstość rentgenowską dla:
KBr – układ regularny, a = 6,578 Å , Z=4; GeP – układ tetragonalny, a = 3,544 Å, c = 5, 581 Å, Z=2; ZnO – układ heksagonalny, a = 3,2498 Å, c = 5, 2066 Å, Z=2. 3/27 XRD 4
4
4/27 XRD 4
5
Identyfikacja fazowa (jakościowa) substancji
Etapy pracy: 1. Wykonanie pomiaru metodą proszkową (przy odpowiednio dobranych parametrach). 2. Odczytanie kątów ugięcia i przeliczenie ich na wartości dhkl, korzystając z wzoru Bragga (przyjmując znaną wartość długości fali i n=1). 3. Oszacowanie intensywności względnych. 4. Porównanie wartości dhkl obliczonych z tablicowymi, zaczynając od wartości odpowiadającej refleksowi o największej intensywności – identyfikacja fazy. BAZY DANYCH: - ASTM (American Society for Testing Materials), - JCPDS – ICDD (Join Committee for Powder Diffraction Standards – International Centre For Diffraction Data). Sposoby korzystania z kart identyfikacyjnych: - skorowidz alfabetyczny, - skorowidz liczbowy (Hanawalta), - skorowidz Finka, - obecnie – komputerowe bazy danych. 5/27 XRD 4
6
6/27 XRD 4
7
Opiera się na zależności pomiędzy intensywnością refleksów
Analiza ilościowa Opiera się na zależności pomiędzy intensywnością refleksów pochodzących od danej fazy a zawartością tej fazy: Ii = (Ki xi) / (ri m*) Ii- intensywność wybranego refleksu i-tej fazy Ki- stała eksperymentalna (zależna od składu chem. i struktury fazy oraz warunków pomiaru) xi- ułamek wagowy fazy w mieszaninie ri- gęstość fazy m*- masowy współczynnik absorpcji prom. X (m*=m/r) 7/25 XRD 4
8
8/26 XRD 4
9
9/27 XRD 4
10
Ilościowe oznaczenie zawartości składnika A
w próbce polikrystalicznej dwufazowej (faza A + faza B) metodą wzorca wewnętrznego Przeprowadzenie analizy fazowej (metoda proszkowa). Wybór wzorca (intensywne piki wzorca nie mogą się nakładać na piki oznaczanej substancji). Wybór konkretnego refleksu wzorca i substancji oznaczanej. Przygotowanie mieszanin wzorcowych (znana zawartość fazy A i fazy B + stała naważka wzorca). Pomiar intensywności wybranych refleksów dla mieszanin wzorcowych i obliczenie średnich wartości IA/Iwzorca. Obliczenie, w oparciu o metodę najmniejszych kwadratów, zależności liniowej IA/Iwzorca = a cA + b Przygotowanie próbek do pomiarów, poprzez zmieszanie ich ze stałą naważką wzorca. Pomiar intensywności wybranych refleksów dla próbek badanych i obliczenie średnich wartości IA/Iwzorca. Obliczenie ze wzoru z pkt. 6 zawartości fazy A (cA). 10/27 XRD 4
11
11/27 XRD 4
12
12/27 XRD 4
13
13/27 XRD 4
14
14/27 XRD 4
15
15/27 XRD 4
Podobne prezentacje
© 2024 SlidePlayer.pl Inc.
All rights reserved.