Pobierz prezentację
Pobieranie prezentacji. Proszę czekać
1
Diagnostyka Elektroniczna
BIST dla filtru OTA-C zrealizowany metodą emulacji filtru za pomocą układu wszechprzepustowego październik 2009
2
Wprowadzenie Projektowanie dla testowania – każda modyfikacja układu na etapie projektowania, która może ułatwić testowanie, zredukować jego koszt, podnieść efektywność.
3
Wprowadzenie BIST (Built In Self Test) – mikroukład pomiarowy, wbudowany w układ scalony, w pakiet lub system elektroniczny umożliwiający jego samotestowanie.
4
Koncepcja BISTu
5
Wzmacniacze transkonduktancyjne (OTA)
6
OTA jednowyjściowy
7
OTA w pełni różnicowy
8
Prototypowy filtr RLC
9
Symulacja uziemionej rezystancji
10
Symulacja nieuziemionej rezystancji
11
Symulacja indukcyjności
12
Filtr OTA-C i filtr prototypowy RLC
13
Charakterystyka amplitudowo – częstotliwościowa filtru
14
Opóźnienie grupowe filtru w funkcji częstotliwości
15
W pełni różnicowa implementacja filtru OTA-C
16
Stopień wzmacniający
17
Filtry ze skorygowanym wzmocnieniem równym jeden
18
W pełni różnicowy układ wszechprzepustowy
19
Przebiegi opóźnienia grupowego w pełni różnicowego filtru OTA-C i equalizera
20
Blok analizujący (sumator napięć)
21
Element transkonduktancyjny (konwerter napięcia różnicowego na prąd pojedynczego wyjścia)
22
Aktywne obciążenie
23
Komparator okienkowy i układ logiczny
24
Charakterystyka przejściowa komparatora okienkowego
25
W pełni różnicowy filtr OTA-C z układem BIST
27
Przebiegi w układzie zdatnym
28
Przebiegi w układzie uszkodzonym
29
Przebiegi w układzie uszkodzonym
30
Parametry BISTu Pokrycie uszkodzeń: 98%
Dodatkowe zużycie powierzchni krzemu: 20%
31
Detektor przejścia przez zero
32
Charakterystyka przejściowa
Podobne prezentacje
© 2024 SlidePlayer.pl Inc.
All rights reserved.