Krystalografia rentgenowska
Lampa rentgenowska
K L1 L2 L3 M1 M2 M3 M4 M5 1s–1 2s–1 2p1/2–1 2p3/2–1 3s–1 3p1/2–1 3p3/2–1 3d3/2–1 3d5/2–1 K-L3 K-L2 K-M3 K-N3 K-N2 K-M2 Ka1 Ka2 Kb1 Kb2I Kb2II Kb3 CuK-L3 = CuKa1 Ka2 Ka1 Kb1 Kb2 Ke S 5.37471 Fe 1.93991 1.93597 1.75653 1.743 Ni 1.66169 1.65784 1.50010 1.48861 1.488 Cu 1.54433 1.54051 1.39217 1.38102 1.380 Mo 0.713543 0.709260 0.632253 0.62099 0.6198 Ag 0.563775 0.559363 0.49701 0.48701 0.4858 Au 0.185064
Liniowy współczynnik absorpcji promieniowania X dla niklu i miedzi Próg absorpcji lK
Warunki dyfrakcji Lauego
Wzmocnienie interferencyjne DF = 0° Wygaszenie interferencyjne DF = 180°
Warunki dyfrakcji - równanie Braggów-Wulfa Odbicie interferencyjne
* 07/16/96 Sieć odwrotna (Ewald, 1921) *
Warunek dyfrakcji Ewalda * 07/16/96 Warunek dyfrakcji Ewalda Sfera Ewalda wiązka pierwotna *
Warunek dyfrakcji Ewalda * 07/16/96 Warunek dyfrakcji Ewalda Warunki dyfrakcji Lauego Równanie Braggów-Wulfa *
Natężenie wiązki ugiętej I(h): * 07/16/96 Natężenie wiązki ugiętej I(h): F(h) - czynnik struktury fj - atomowy czynnik rozpraszania *
Czynnik temperaturowy * 07/16/96 Czynnik temperaturowy Izotropowy Debye-Waller’a Anizotropowy gdzie: fT - czynnik rozpraszania atomu drgającego *
Anizotropowe czynniki temperaturowe - rysunek Ortep
Problem fazowy w rozwiązywaniu struktury * 07/16/96 Problem fazowy w rozwiązywaniu struktury *
Prawo Friedla
Rozpraszanie anomalne
* 07/16/96 Obraz dyfrakcyjnej sieci odwrotnej dla kryształu RbHSO3 - (grupa przestrzenna R3m) k h *
l k
Klasy dyfrakcyjne Lauego trójskośny jednoskośny rombowy tetragonalny heksagonalny regularny