Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych PŁ Proces ze studnią typu n.

Slides:



Advertisements
Podobne prezentacje
Cele wykładu Celem wykładu jest przedstawienie: konfiguracji połączeń,
Advertisements

Elementy Elektroniczne
Tranzystor polowy, tranzystor unipolarny, FET
Instytut Metrologii i Automatyki Elektrotechnicznej
Metody otrzymywania nanostruktur.
kontakt m-s, m-i-s, tranzystory polowe
EN ISO 8044:1999 Korozja metali i stopów – Podstawowa terminologia i definicje Korozja to fizykochemiczne oddziaływanie między środowiskiem i metalem,
Korozja.
Mateusz Wieczorkiewicz
Wykonał Artur Kacprzak kl. IVaE
1 Własności elektronowe amorficznych stopów Si/Me:H w pobliżu przejścia izolator-metal Gęste pary metali (wzrost gęstości -> I-M) niemetale poddane wysokiemu.
Podstawy teorii przewodnictwa
Pracownia elektrochemii Kierownik pracy: dr hab. Magdalena Skompska
Joanna Jagiełło Badanie utleniania elektrody kobaltowej w roztworze zasadowym w obecności substancji przyspieszających i spowalniających korozję z wykorzystaniem.
Seminarium specjalizacyjne z chemii fizycznej,
WŁAŚCIWOŚCI STOPÓW Pd90/Ag10
Elektrochemiczne właściwości metalicznego renu
Opracowała Paulina Bednarz
Elektronika Leszek P. Błaszkiewicz.
Metale i stopy metali.
Elementy technologii mikroelementów i mikrosystemów
Powłoki ochronne i dekoracyjne
Parametry układów cyfrowych
Marcin Miczek [マルチン・ミツェク]
DETEKTORY I MIESZACZE.
Właściwości mechaniczne materiałów
Procedura pomiarowa X M M* N Z V Rozdzielczość Mezurand M Selektywność
Elektronika z technikami pomiarowymi
Tranzystory FET.
Mierzy się odkształcenie elementu sprężystego ciśnieniomierza
Czujniki do pomiaru ciśnień Mierzy się:a) nadciśnienie b) ciśn. absolutne c) różnicę ciśnień Metoda pomiaru : Mierzy się odkształcenie elementu sprężystego.
Przetworniki ciśnienia. Elementy odkształcalne rurkowe JednorodnaBourdona Z wewnętrznym trzpieniemAsymetryczna.
Autor: Tomasz Ksiądzyk
Doświadczenie: Wpływ kreta , sody oczyszczonej , octu , wody i soli kuchennej na proces utleniania żelaza Żelazo jest bardzo rozpowszechnionym pierwiastkiem.
TRANZYSTORY POLOWE – JFET
Miłosz Andrzejewski IE
Tranzystory z izolowaną bramką
Półprzewodniki Wykonał: Kamil Gręźlikowski kl. 1H.
Elementy składowe komputera
Tlenkowe Ogniwo Paliwowe Zbudowane na Interkonektorze
Dr h.c. prof. dr inż. Leszek A. Dobrzański
Politechnika Rzeszowska
Pamięci RAM i ROM R. J. Baker, "CMOS Circuit Design, Layout, and Simulation", Wiley-IEEE Press, 2 wyd
Przewodniki, półprzewodniki i izolatory prądu elektrycznego
E.I.C E MERGENCY I NDEPENDENT C HARGING.  Praktycznie w każdych warunkach przy użyciu kubka z ciepłym napojem możemy naładować swoje urządzenie mobilne!
Zajęcia organizacyjne
3. Elementy półprzewodnikowe i układy scalone c.d.
Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych PŁ Wytwarzanie tranzystora NMOS.
3. Elementy półprzewodnikowe i układy scalone
PROCESY SPAJANIA Opracował dr inż. Tomasz Dyl
TECHNOLOGIE MIKROELEKTRONICZNE Dr inż. Krzysztof Waczyński, Instytut Elektroniki, Politechnika Śląska, Akademicka 16, Gliwice (
TECHNOLOGIE MIKROELEKTRONICZNE Dr inż. Krzysztof Waczyński, Instytut Elektroniki, Politechnika Śląska, Akademicka 16, Gliwice (
TECHNOLOGIE MIKROELEKTRONICZNE Dr inż. Krzysztof Waczyński, Instytut Elektroniki, Politechnika Śląska, Akademicka 16, Gliwice (
TECHNOLOGIE MIKROELEKTRONICZNE Dr inż. Krzysztof Waczyński, Instytut Elektroniki, Politechnika Śląska, Akademicka 16, Gliwice (
TECHNOLOGIE MIKROELEKTRONICZNE Dr inż. Krzysztof Waczyński, Instytut Elektroniki, Politechnika Śląska, Akademicka 16, Gliwice (
TECHNOLOGIE MIKROELEKTRONICZNE Dr inż. Krzysztof Waczyński, Instytut Elektroniki, Politechnika Śląska, Akademicka 16, Gliwice (
KOROZJA I SPOSOBY ZAPOBIEGANIA
Fizyka Prezentacja na temat: „Półprzewodniki i urządzenia półprzewodnikowe” MATEUSZ DOBRY Kraków, 2015/2016.
TECHNOLOGIE MIKROELEKTRONICZNE Dr inż. Krzysztof Waczyński, Instytut Elektroniki, Politechnika Śląska, Akademicka 16, Gliwice (
TECHNOLOGIE MIKROELEKTRONICZNE Dr inż. Krzysztof Waczyński, Instytut Elektroniki, Politechnika Śląska, Akademicka 16, Gliwice (
Miernictwo przemysłowe 5. Sensory inteligentne, komunikacja i technologia.
Żelazo i jego związki.
DOMIESZKOWANIE DYFUZYJNE
Spektrometria Mas Jonów Wtórnych ION-TOF GmbH, Münster, Germany
TRAWIENIE KRZEMU TEKSTURYZACJA
WYTWARZANIE WARSTW DWUTLENKU KRZEMU
Czujniki mikromechaniczne
DOMIESZKOWANIE DYFUZJA
4.2. TRANZYSTORY UNIPOLARNE
2. ZJAWISKA KONTAKTOWE Energia elektronów w metalu
Zapis prezentacji:

Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych PŁ Proces ze studnią typu n

Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych PŁ Utlenianie powierzchni

Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych PŁ Pokrycie warstwą fotorezystu

Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych PŁ Maskowanie i naświetlenie

Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych PŁ Wywołanie fotorezystu

Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych PŁ Wytrawienie tlenku

Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych PŁ Implantacja jonów

Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych PŁ Wygrzewanie

Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych PŁ Wytworzenie tlenku bramkowego

Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych PŁ Osadzenie, maskowanie i wytrawienie polikrzemu

Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych PŁ Wytworzenie tranzystorów NMOS

Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych PŁ Wytworzenie tranzystorów PMOS

Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych PŁ Pierwsza warstwa izolacyjna

Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych PŁ Wytrawienie otworów pod kontakty

Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych PŁ Kontakty i metalizacja I

Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych PŁ Druga warstwa izolacyjna

Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych PŁ Otwory pod przelotki (VIAs)

Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych PŁ Przelotki i metalizacja II

Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych PŁ Pasywacja końcowa

Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych PŁ Nakładanie warstw przewodzących

Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych PŁ Wytrawienie nadmiaru metalu

Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych PŁ Lift-off

Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych PŁ Kontakty metaliczne do półprzewodnika  Doprowadzenia drenu i źródła  Polaryzacja podłoża i studni  Zawsze do obszaru bogato domieszkowanego

Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych PŁ Technologia podwójnej studni

Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych PŁ Warstwa epitaksjalna pokryta dwutlenkiem i azotkiem krzemu

Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych PŁ Pokrycie, naświetlenie i wywołanie fotorezystu

Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych PŁ Implantacja studni typu N

Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych PŁ Pokrycie warstwą grubego tlenku

Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych PŁ Implantacja studni typu P

Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych PŁ Wygrzewanie - dyfuzja domieszek

Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych PŁ Tranzystor ze słabo domieszkowanym drenem Lightly Doped Drain (LDD)

Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych PŁ Implantacja słabo domieszkowanych obszarów drenu i żródła

Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych PŁ Osadzenie dwutlenku krzemu (CVD)

Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych PŁ Trawienie dwutlenku krzemu

Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych PŁ Implantacja drenu i źródła