Pobieranie prezentacji. Proszę czekać

Pobieranie prezentacji. Proszę czekać

Analiza danych proszkowej dyfrakcji X (XRPD) krótka instrukcja X-ray powder diffraction (XRPD): krótkie podsumowanieX-ray powder diffraction (XRPD): krótkie.

Podobne prezentacje


Prezentacja na temat: "Analiza danych proszkowej dyfrakcji X (XRPD) krótka instrukcja X-ray powder diffraction (XRPD): krótkie podsumowanieX-ray powder diffraction (XRPD): krótkie."— Zapis prezentacji:

1 Analiza danych proszkowej dyfrakcji X (XRPD) krótka instrukcja X-ray powder diffraction (XRPD): krótkie podsumowanieX-ray powder diffraction (XRPD): krótkie podsumowanie Analiza jakościowa: przygotowanie dyfraktogramu i poszukiwanie możliwych faz strukturalnych Analiza jakościowa: przygotowanie dyfraktogramu i poszukiwanie możliwych faz strukturalnych Analiza dokładna: dopasowanie struktury metoda Rietveld’aAnaliza dokładna: dopasowanie struktury metoda Rietveld’a

2 Rozłożenie atomów w komórce Intensywności pików Symetria komórki i jej rozmiar Pozycje pików a c b kształt piku Rozmiar ziaren Background XRPD

3 Początkowa uwaga Bezpośrednie rozpoznanie i dopasowanie (Ab initio) struktury krystalicznej nieznanych faz jest bardzo trudnym, złożonym delikatnym zadaniem.** Lepiej jest na początku, i to się często robi, dopasować strukturę krystaliczną wykorzystując model początkowy bazujący na innych przesłanakach, doświadczeniu, bazach danych związków już poznanych. ** metody Ab initio Harris, K.D.M., M. Tremayne, and M. Kariuki. Contemporary Advances in the Use of Powder X-Ray Diffraction for Structure Determination, Angew. Chem. Int. Ed. 40 (2001) Giacovazzo, C. Direct Methods and Powder Data: State of the Art and Perspectives, Acta Crystallogr. A52 (1996) Scardi, P., et al. International Union of Crystallography Commission for Powder Diffraction.

4 XRPD mamy zrobiony dyfraktogram!

5 Czy jesteśmy w stanie rozróżniać piki od tła? Czy „statystyka szumów” nam odpowiada? Czy możemy rozróżnić rożne piki? Czy rozdzielczość, skok pomiaru, są zadowalające do dalszej analizy? Główne piki: czy są symetryczne?

6 Szukanie struktury bazowej, która pasowałaby do otrzymanych danych, na podstawie wiedzy a priori o próbce Można poszukać w internecie: Porównanie otrzymanego dyfraktogramu z tymi zawartymi w bazie danych związków o podobnym składzie chemicznym Można użyć komercyjnych programów i bazy danych struktur: X’Pert High Score ICDD PDF2, PDF4

7

8 y2o3.dat

9 database Otrzymany dyfraktogram Dane z bazy go ahead! Jeśli orientacyjnie dyfraktogramy pasują do siebie...

10 icsd_86815.cel icsd_86815.cif Żeby oszczędzić sobie pracy, to dane o strukturze z bazy danych można zapisać w plikach o przyjętym powszechnie standardzie CIF albo CEL

11 ftp://ftp.bam.de/Powder_Cell/ PowderCell, program do początkowej analizy danych, pozwala na: - wizualizację struktury, - generowanie testowych dyfraktogramów na podstawie modeli - dopasowanie struktury metodą Rietveld’a - etc...

12 Pobranie struktyry z pliku (.cel) Modyfikacja komórki Wygląd komórki Rożne opcje obrazowania komórki Generowanie dyfraktogramu Dopasowania struktury

13 Pobieranie struktury komórki

14 wiązka ugięta wiązka padająca   Warunki eksperymentu: długość fali X „geometria eksperymentu” zakres kątowy

15 y2o3.x_y Dane otrzymane i modelowane są podobne, nasz model jest w przybliżeniu poprawny, teraz możemy wyznaczyć bardziej dokładne informacje o strukturze

16 Metoda Rietveld udokładniania struktury I calc = I bck + S  hkl  C hkl  F 2 hkl  P hkl  tło współczynnik skali korekcje Miller czynnik struktury funkcja profilu piku symetria „geometria eksperymentu” Pozycje atomów, zajętość pozycji czynniki temperaturowe Rozmiar ziaren,naprężenia wewnętrzne, tekstura + rozdzielczość eksperymenty

17 Sample wiązka ugięta wiązka padająca 22 odchylenie - przesunięcie przesunięcie „zera”

18 I calc = I bck + S  hkl  C hkl  F 2 hkl  P hkl 

19

20 Refinement of y2o3.x_y 12/10/ ¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯ R-values Rp=18.08 Rwp=24.85 Rexp= iterations of 6 parameter old new icsd_86815 ¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯ scaling : lattice a : profile U : PsVoigt2 V : W : overall B : global parameters ¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯¯ zero shift : displacement : backgr. polynom : coeff. a0 : a1 : a2 : a3 : a4 : a5 : a6 : -6.29E E-7 a7 : 3.161E E-8 a8 : E E-12 a9 : E E-12 a10 : 2.97E E-1 a11 : 1.251E E-1 a12 : E E-1 a13 : 8.173E E-2

21 CMPR Szykanie innych dodatkowych informacji

22

23

24

25 Możliwość łączenia różnych danych w celu symulacji dyfraktogrmów wielofazowych

26 (multi-) peak fitting routines 1

27 Mozliwość wyboru pików do dopasowań

28 Ciekawe narzędzie do analizy kształtu pików

29

30

31 GSAS gsas/

32

33

34

35 I calc = I bck + S  hkl  C hkl  F 2 hkl  P hkl 

36 peak breadth Gaussian: peak breadth Gaussian:  2 = GU tan 2  + GV tan  + GW tan 2 q + GP/cos 2  sample shift:shft sample shift: s = -  R shft / 3600 sample absorption: sample absorption:  eff = / (  R Asym) peak breadth Lorentzian :LXptecLYstec peak breadth Lorentzian :  = (LX - ptec cos  )/cos  (LY - stec cos  ) tan  Gaussian Sherrer broadening Lorentzian Sherrer broadening (particle size) Anisotropy Lorentzian strain broadening Anisotropy (stacking faults)

37 Gaussian Breadth: Gaussian Breadth:  2 = GU tan 2  + GV tan  + GW tan 2 q + GP/cos 2  Lorentzian Breadth:LXptecLYstec Lorentzian Breadth:  = (LX - ptec cos  )/cos  (LY - stec cos  ) tan  Strain: S =  d/d Gaussian contrib. S = sqrt[8 ln 2 (GU- U i )] (  /18000) · 100% Instrumental contribution Lorentzian contrib. S =  LY –Y i ) (  /18000) · 100% Instrumental contribution Particle size: P P = (18000/  ) K / LX Scherrer constant

38 1 23 Mp =  w (I exp -I calc ) 2 Rp =  (I exp -I calc ) /  I exp wRp = sqrt[ Mp /  I 2 exp ]  2 = Mp / (N obs - N var ) 4


Pobierz ppt "Analiza danych proszkowej dyfrakcji X (XRPD) krótka instrukcja X-ray powder diffraction (XRPD): krótkie podsumowanieX-ray powder diffraction (XRPD): krótkie."

Podobne prezentacje


Reklamy Google